Halbleiterbauelement mit Alterungssensorsystem und Verfahren dafür

EP4729954 22. April 2026

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4729954
Anmeldetag
20. Oktober 2025
Veröffentlichung
22. April 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G01R27/26, G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

A semiconductor device apparatus is provided. The apparatus includes a packaged semiconductor device (100) mounted on a substrate (132). The packaged semiconductor device includes a semiconductor die (102) having a controller configured to obtain a measured capacitance of a sensor capacitor (138), an encapsulant (122) encapsulating the semiconductor die, and a first plate (114) of the sensor capacitor formed at a bottom side of the packaged semiconductor device. A second plate (128) of the sensor capacitor is formed at a top side of the substrate.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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