Intelligentes Selbstdiagnoseschema für Vorhersagbaren Fehler und Erweiterte Zuverlässigkeit in Eingebetteten Systemen
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4729957
- Anmeldetag
- 16. Oktober 2024
- Veröffentlichung
- 22. April 2026
- Rechtsraum
- EP
Abstract
Methods and systems are described for monitoring and diagnosing the health of a processing unit within an embedded system using a power management integrated circuit (PMIC). The PMIC measures the current power consumption and temperature of the processing unit and compares these measurements against expected ranges derived from mission profiles, operational modes, and/or historical data. An alert is generated to prompt corrective action if the measurements are determined to be outside an expected range.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
1.545 Patente in unserer Datenbank
-
Miles, John Richard
NXP Semiconductors · Romsey