Verfahren zum Kombinieren von Höhenkarten und Profilometer dafür
EP4742156
13. Mai 2026
Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4742156
- Anmeldetag
- 7. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 13. Mai 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/521
Abstract
The invention relates to a method for measuring a first height map and a second height map of a sample surface with a profilometer and combining the first and second height maps to a composite height map. The invention further relates to a profilometer configured for measuring a first height map and a second height map and combining the first and second height maps to a composite height map.
Anmelder
- Firma
- Mitutoyo Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Mitutoyo Corporation
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
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