Potentialkorrektureinheit, Vorrichtung und Verfahren zur Verwendung der Potentialkorrektureinheit

EP4776324 15. Juli 2026

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4776324
Anmeldetag
13. Januar 2025
Veröffentlichung
15. Juli 2026
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/04, H01J37/09
Offizieller Volltext

Abstract

The present invention provides a potential corrector unit for use in a charged particle beam assessment apparatus 41 for assessing a sample 208. The potential corrector unit comprises a potential corrector 300 configured to influence an electric potential at a peripheral region of a surface of the sample. The potential corrector is disposed upbeam of the sample.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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