Verbesserungen an Lithographischen Verfahren und Apparaten

EP4800477 2. September 2026

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4800477
Anmeldetag
26. Februar 2025
Veröffentlichung
2. September 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G03F7/00
Offizieller Volltext

Abstract

A method of forming a feature on a substrate. The method comprises performing an exposure process comprising projecting an image of the feature in the vicinity of the substrate. The method comprises adjusting a focal position of the image relative to a top surface of the substrate during the exposure process. The method comprises adjusting an intensity of the image during the exposure process.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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