Verfahren und System zur Charakterisierung mindestens eines Kantendefekts eines Werkstücks
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Instruments (Singapore) Pte Ltd. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4814861
- Anmeldetag
- 25. März 2025
- Veröffentlichung
- 30. September 2026
- Rechtsraum
- EP
Abstract
In a first aspect, a method for characterising at least one edge defect (100) of a workpiece is provided. The method includes the step of determining a Feret diameter of the at least one edge defect (100). The method further includes the step of characterising the at least one edge defect (100) based on the determined Feret diameter. In a further aspect, a corresponding system (300) is provided.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Instruments (Singapore) Pte Ltd. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
956 Patente in unserer Datenbank
Leica Instruments (Singapore) ist eine Gesellschaft der Leica-Microsystems-Gruppe und in der Entwicklung optischer und medizinischer Instrumente tätig. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Medizintechnik, ergänzt durch Software und Mess- und Prüftechnik. Die Titel betreffen vor allem bildgebende Systeme für die Mikroskopie.
305 Patente in unserer Datenbank