Verfahren zur Ermittlung eines Optimalen Bildkontrastes bei Verwendung einer Laserphasenplatte
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4815026
- Anmeldetag
- 17. Februar 2026
- Veröffentlichung
- 30. September 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22, H01J37/26
Abstract
Phase contrast imaging in charged particle beam (CPB) systems is controlled by adjusting an undeviated component of a CPB to be at a predetermined location in a diffraction plane in which a phase plate such as a laser phase plate is situated. By scanning the undeviated CPB component in the diffraction plane and assessing image contrast or image spectra, alignment corresponding to the phase at the predetermined phase location can be confirmed and/or offsets corrected.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
883 Patente in unserer Datenbank