Verfahren und Vorrichtung zur Bewertung eines Unbekannten Effekts von Defekten eines Elements eines Photolithographieverfahrens

WO2019219826 Art A1 21. November 2019

Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2019219826
Aktenzeichen
EP19725123
Anmeldetag
16. Mai 2019
Veröffentlichung
21. November 2019
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/20G06K9/62G03F1/84G06T7/00G01N21/956
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen