Vorrichtung und Verfahren zur Charakterisierung der Oberflächenform eines Testobjekts

WO2020164786 Art A1 20. August 2020

Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020164786
Aktenzeichen
EP19835420
Anmeldetag
21. Dezember 2019
Veröffentlichung
20. August 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/20G01B9/02G01M11/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss SMT GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen