Messvorrichtung zum Interferometrischen Vermessen einer Oberflächenform
WO2022200210
Art A1
29. September 2022
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022200210
- Aktenzeichen
- EP22716893
- Anmeldetag
- 18. März 2022
- Veröffentlichung
- 29. September 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/02015G01B9/02G01B11/24G01B21/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss SMT GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Carl Zeiss SMT GmbH
Carl Zeiss SMT GmbH · Oberkochen