Messverfahren mit einem Rastertransmissionselektronenmikroskop, Rastertransmissionselektronenmikroskopsystem und Programm
WO2024262601
Art A1
26. Dezember 2024
Anmelder: The University of Tokyo 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2024262601
- Aktenzeichen
- EP24826002
- Anmeldetag
- 21. Juni 2024
- Veröffentlichung
- 26. Dezember 2024
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J37/28G01N23/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- The University of Tokyo
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
University of Tokyo
Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.
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Vertreten von
-
Bandpay & Greuter
Bandpay & Greuter · Paris