Teststruktur für Integrierte Schaltungen zur Erkennung und Messung von Fehlausrichtungen von Pad-Bonds
WO2025144530
Art A1
3. Juli 2025
Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025144530
- Aktenzeichen
- EP24914133
- Anmeldetag
- 21. November 2024
- Veröffentlichung
- 3. Juli 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L23/00H01L21/66H01L23/544
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- INTEL Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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