Tektronix, Inc. Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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606 gesamt| Patent | |||
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04.02.2026
Lineare und Nichtlineare Kalibrierung für Zeitverschachtelten Digital-Analog-Wandler
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.12.2019
Erteilt am 04.02.2026
Vertretung
HGF Limited · Den Haag
HGF · München
Zusammenfassung
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06.11.2025
Pluggable optical voltage and current probes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.05.2025
Anhängig
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08.10.2025
Videowellenformspitzenwertindikator
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 05.07.2018
Erteilt am 08.10.2025
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
Zusammenfassung
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01.10.2025
Verfahren zur Auswertung der Perzeptuellen Visuellen Qualität mit Niedriger Komplexität für Komprimierte JPEG2000-Ströme
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 03.10.2016
Erteilt am 01.10.2025
Vertretung
HGF Limited · Den Haag
HGF · München
Zusammenfassung
A method of detecting image quality in a wavelet transform-encoded image includes receiving wavelet transform-encoded image data partitioned into tiles, each tile partitioned into a number of subbands, evaluating a number of wavelets in fewer than the number of subbands, assigning a measure to each of the subbands evaluated for each tile, using the measures to determine a perceptual visual quality score for the image, and adjusting operation of the decoder based upon the perceptual visual quality score. A decoding system includes a memory to receive wavelet-transformed compressed image data having a predetermined number of subbands, and a decoder to determine a number of wavelet coefficients in a subset of the predetermined number of subbands, measure an amount of blur in the image data based upon the number of wavelet coefficients, and adjust a decoding process based upon the amount of blur. |
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10.09.2025
Kabelverbinder für Leiterplattenkopplung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.04.2018
Erteilt am 10.09.2025
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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10.09.2025
Entzerrer für Begrenzte Intersymbolinterferenzen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 12.03.2018
Erteilt am 10.09.2025
Vertretung
HGF Limited · Den Haag
HGF · München
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21.08.2025
Moving Max Envelope Filter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2025
Anhängig
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25.06.2025
Echtzeit-Jitter-Beeinträchtigungseinfügung für Signalquellen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.12.2019
Erteilt am 25.06.2025
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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01.05.2025
Power probe fixtures and adapters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.10.2024
Anhängig
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16.04.2025
Synchronisation von Instabilen Signalquellen zur Verwendung in einem Phasenstabilen Instrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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16.04.2025
Lösbare Sondenverbindung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.10.2014
Erteilt am 16.04.2025
Vertretung
Clarke, Jeffrey David · Sheffield
HGF · München
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18.12.2024
Elektrooptischer Sensor mit Hoher Eingangsimpedanz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.12.2024
Stromdatenkorrektur bei Null-Ampere-Stufe für eine zu prüfende Leistungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 13.10.2011
Erteilt am 04.12.2024
Vertretung
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27.11.2024
Abgeschirmte Sondenspitzenschnittstelle
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.11.2024
Method for separating and modeling n-ui jitter based on spectrum
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 03.05.2024
Anhängig
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13.11.2024
Flexible Kabelanordnung mit Widerstandsspitze für Differentielle Sondierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.10.2024
Test and measurement instrument with integrated analog front end
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 24.04.2024
Anhängig
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24.10.2024
Interleaved Digital Trigger Correction
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2024
Anhängig
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24.10.2024
System and methods to accurately measure dynamic resistance for power devices
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2024
Anhängig
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09.10.2024
Dynamische Ausgangsspannungsklemmung für eine Messsonde oder ein Messzubehör
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.02.2017
Erteilt am 09.10.2024
Vertretung
HGF Limited · Den Haag
HGF · München
Zusammenfassung
A probe or accessory for use with an electrical test and measurement instrument can include an input to receive an input signal from a device under test (DUT), a clamp control unit or oscilloscope to apply a clamping/limiting level to the input signal to generate an output signal, and/or a control unit output port to provide the clamped/limited output signal to an oscilloscope. |
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25.09.2024
Sondendämpfer für Reduzierte Eingangskapazität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.07.2018
Erteilt am 25.09.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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11.09.2024
Teststecker für Koaxialkabel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.08.2016
Erteilt am 11.09.2024
Vertretung
Clarke, Jeffrey David · Sheffield
HGF · München
Zusammenfassung
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22.08.2024
Methods and systems of phase aligning a replica carrier signal for use in demodulating a subcarrier signal
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 16.02.2024
Anhängig
Zusammenfassung
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22.08.2024
Automating pcie 6.0 tx equalizer calibration using a multivariable approach
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.02.2024
Anhängig
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21.08.2024
Analoger Signalisolator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 22.06.2018
Erteilt am 21.08.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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21.08.2024
Freigabe eines Auslösers in einem Test- und Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2018
Erteilt am 21.08.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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03.07.2024
Rauschverminderung in Digitalisierungssystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.05.2017
Erteilt am 03.07.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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23.05.2024
Split-path multiplexing accessory for a test and measurement instrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.11.2023
Anhängig
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23.05.2024
Optically-implemented analog mux accessory for a test and measurement instrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 16.11.2023
Anhängig
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08.05.2024
Flexible Kabelanordnung mit Widerstandsspitze für Differentielle Sondierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.03.2017
Erteilt am 08.05.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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01.05.2024
Abgeschirmte Sondenspitzenschnittstelle
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.05.2018
Erteilt am 01.05.2024
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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01.05.2024
Elektrooptischer Sensor mit Hoher Eingangsimpedanz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.05.2018
Erteilt am 01.05.2024
Vertretung
HGF Limited · Den Haag
HGF · München
Zusammenfassung
The disclosure includes an electro-optical sensor. The electro-optical sensor includes a test signal input to receive a test signal from a device under test (DUT). A bias circuit is employed to generate a bias signal. The electro-optical sensor also includes a Mach-Zehnder Modulator (MZM) that employs an optical input, an optical output, and a bias input. The MZM is configured to receive an optical carrier signal via the optical input. The MZM also receives both the test signal and the bias signal on the bias input. The MZM modulates the test signal from the bias input onto the optical carrier to generate an optical signal while operating in a mode selected by the bias signal. The MZM also outputs the optical signal over the optical output. |
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01.05.2024
Empfehlungsmessungen auf der Basis Erkannter Wellenformtypen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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18.04.2024
Ad hoc machine learning training through constraints, predictive traffic loading, and private end-to-end encryption
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 11.10.2023
Anhängig
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18.04.2024
Customizable safety enclosure for a device under test
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2023
Anhängig
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17.04.2024
Verschachtelte digitale Abwärtswandlung in einem Test- und Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.05.2012
Erteilt am 17.04.2024
Vertretung
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10.04.2024
Zeitbereichstrigger eines Prüf- und Messinstruments
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.08.2011
Erteilt am 10.04.2024
Vertretung
Zusammenfassung
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27.12.2023
Automatische Hohlraumfilterabstimmung mittels Maschinenlernen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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25.10.2023
Asynchroner zeitverschachtelter Wellenformgenerator mit harmonischem Mischen
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2014
Erteilt am 25.10.2023
Vertretung
Clarke, Jeffrey David · Sheffield
HGF · München
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13.09.2023
Digitale Signalverarbeitungswellenformsynthese für Signalquellen mit Fester Abtastrate
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 31.12.2019
Erteilt am 13.09.2023
Vertretung
HGF · München
HGF Limited · Den Haag
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Wer vertritt Tektronix, Inc.?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Tektronix, Inc. vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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