Elektronenstrahlverarbeitung zur Maskenreparatur
EP1586007
Art B1
11. April 2012
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1586007
- Aktenzeichen
- EP04702994
- Anmeldetag
- 16. Januar 2004
- Veröffentlichung
- 11. April 2012
- Erteilung
- 11. April 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Hofstetter, Schurack & Partner
Hofstetter, Schurack & Partner · München
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Patentanwälte Hofstetter, Schurack & Skora
Patentanwälte Hofstetter, Schurack & Skora · München