Optische Sondierung in Elektronenmikroskopen
EP2419215
Art B1
1. Juli 2015
Anmelder: FEI Company, Nanofactory Instruments AB 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2419215
- Aktenzeichen
- EP10764742
- Anmeldetag
- 15. April 2010
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2015
- Erteilung
- 1. Juli 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20H01J37/26H01J37/22B25J7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FEI Company
Nanofactory Instruments AB - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Valea AB
Valea AB · Göteborg