Dekodiereinheit zur Bestimmung eines Stoffes oder Materialgefüges eines Erfassten Objekts basierend auf den Signalen eines Kapazitiven Sensors und Verfahren zur Bestimmung eines Stoffes oder Materialgefüges eines Erfassten Objekts basierend auf den Signalen eines Kapazitiven Sensors
EP2627999
Art B1
12. Dezember 2018
Anmelder: NXP USA, Inc., Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2627999
- Aktenzeichen
- EP10858361
- Anmeldetag
- 15. Oktober 2010
- Veröffentlichung
- 12. Dezember 2018
- Erteilung
- 12. Dezember 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F3/041G06F3/044
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NXP USA, Inc.
Freescale Semiconductor, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
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Pomper, Till
NoneToulouse
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Ferro, Frodo Nunes
NoneToulouse