System zur Messung der Winkelposition und Verfahren zur Streufeldunterdrückung
EP3550269
Art A1
9. Oktober 2019
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP3550269
- Aktenzeichen
- EP19161017
- Anmeldetag
- 6. März 2019
- Veröffentlichung
- 9. Oktober 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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Fachgebiete
Weitere Vertreter
-
Pomper, Till
NoneToulouse