Testvorrichtung und Verfahren zum Testen eines Halbleiterbauelements

EP3859892 Art B1 18. September 2024

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP3859892
Aktenzeichen
EP20154941
Anmeldetag
31. Januar 2020
Veröffentlichung
18. September 2024
Erteilung
18. September 2024
Rechtsraum
EP
IPC
H01Q3/26G01R1/04H01L23/66G01R31/28G01S7/02G01S7/40H04B17/14// G01S13/931
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.818 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
Vertreten von
Schmütz, Christian Klaus Johannes NXP Semiconductors Germany GmbH · Inhouse Hamburg, Deutschland
560
Patente gesamt
15
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung Elektrische Energietechnik
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