Degradationsmonitor für Bonddraht-Bondpad-Schnittstellen

EP4290252 Art A1 13. Dezember 2023

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4290252
Aktenzeichen
EP23175632
Anmeldetag
26. Mai 2023
Veröffentlichung
13. Dezember 2023
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/28H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.818 Patente in unserer Datenbank

Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen