Spannungsstörungsdetektion

EP4741845 13. Mai 2026

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4741845
Anmeldetag
8. November 2024
Veröffentlichung
13. Mai 2026
Rechtsraum
EP
IPC
(LENTZ ANDREAS et al.)
Offizieller Volltext

Abstract

The disclosure relates to a supply voltage glitch detection circuit (300) comprising: a first flip-flop (301) having a data input (302), a clock input (303) and an output (304); a delay circuit (305) having an output (307) connected to the data input of the first flip-flop; a first clock signal divider (308) having a clock input (309) connected to receive an inverted clock signal and an output (312) connected to an input (306) of the delay circuit (305); a second clock signal divider (313) having a clock input (314) connected to receive the clock signal and an output (315) connected to the clock input (303) of the first flip-flop, wherein the circuit (300) is configured to cause a glitch detection signal output to change state upon a supply voltage of the circuit (300) deviating to cause a change in a delay provided by the delay circuit (305).

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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