Brungard, Yves

Metz, Frankreich Seit Datenerfassung Inaktiv
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Patente gesamt
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Fachgebiete
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Patente

1 gesamt
Patent
03.08.2005 · STMicroelectronics S.A.
Integrierte Schaltung mit sicherem Testmodus mittels Initialisierung des Testmodus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertretene Patentanmelder

Die Patentanmelder, die Brungard, Yves in den erfassten Patenten am häufigsten vertritt.

Anmelder Anzahl Patente
1. STMicroelectronics International 1

Regionen · Anmelder

Frankreich
1

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