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Korea Research Institute of Standards and Science Patente

🇰🇷 Südkorea

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

452
Patente
2002–2025
Anmeldejahre
23
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

452 gesamt
Patent
07.09.2007
Three demensional surface illumination measuring apparatus for micro optical element array
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.08.2007
Apparatus for high spatial resolution laser desorption ionization mass analysis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.08.2007
Trennverfahren für Mehrkanalelektrophoresevorrichtung ohne Einzelne Probenvertiefungen
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.07.2007
Nano electronic device and fabricating method of the same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.05.2007
Plasma diagnostic apparatus and method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.05.2007
A multi-functional calibration device for brinell hardness tester and a calibration method by the said device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.11.2006
Fret probes for fluorescent detection of the epsps gene
Pharma & Biotechnologie
05.10.2006
An electro-osmotic flow driven ultra small volume pipetting device fabricated with electro-conductive tubing
Verfahrens- & Trenntechnik
24.08.2006
Discretely Itu-T Channel Grid Wavelength Tunable Single Longitudinal Mode Erbium-Doped Fiber Ring Laser
23.03.2006
Fret gene probe selection method using pcr screening
Pharma & Biotechnologie
02.02.2006
A method for fabricating spm and cd-spm nanoneedle probe using ion beam and spm and cd-spm nanoneedle probe thereby
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.10.2002
Capacityive sensor for measuring of inclination
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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