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Micron Technology Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

3.194
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.194 gesamt
Patent
06.03.2008
Bottom electrode geometry for phase change memory
WO2008027279
06.03.2008
Interconnecting Bit Lines in Memory Devices For Multiplexing
WO2008027281
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2008
Nand flash memory programming with floating substrate
WO2008027409
Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.03.2008
Method and apparatus to improve filter characteristics of optical filters
WO2008027412
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2008
Non-volatile memory device and method having bit-state assignments selected to minimize signal coupling
WO2008027681
Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.03.2008
Phase-change random access memory employing read before write for resistance stabilization
WO2008027691
Software & Datenverarbeitung
06.03.2008
In-pixel analog memory with non-destructive read sense circuit for high dynamic range global shutter pixel operation
WO2008027212
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.03.2008
Single spacer process for multiplying pitch by a factor greater than two and related intermediate ic structures
WO2008027239
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2008
Method, imager and system providing paired-bayer color filter array and interlaced readout
WO2008027327
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.03.2008
Image sensor defect identification using blurring techniques
WO2008027475
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.03.2008
Metal core foldover package structures, systems including the same and methods of fabrication
WO2008027746
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2008
Row driver circuitry for imaging devices and related method of operation
WO2008027791
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.03.2008
Method, apparatus and system to reduce readout delay in a sensor
WO2008028030
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
05.03.2008
Nichtflüchtige Speicherzellen ohne Diffusionsverbindungen
EP1894244
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2008
Verringertes Bildgeber-Übersprechen und Pixelrauschen durch Verwendung Erweiterter Vergrabener Kontakte
EP1894247
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2008
Integrated circuitry, electromagnetic radiation interaction components, transistor devices and semiconductor constructions; and methods of forming these
WO2008024161
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2008
System and method for fabricating a fin field effect transistor
WO2008024200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2008
Method, apparatus and system relating to automatic cell threshold voltage measurement
WO2008024688
27.02.2008
Bildgeberverfahren und -Vorrichtung mit Photonischen Kristallen
EP1891680
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.02.2008
Resistive memory device with two select transistors
WO2008020944
Akustik, Musik & Datenspeicherung
21.02.2008
Phase change memory elements using energy conversion layers, memory arrays and systems including same, and methods of making and using
WO2008020961
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.02.2008
Memory device with non-orthogonal word and bit lines and manufacturing method thereof
WO2008021362
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.02.2008
Electron beam processing method using carbon nanotube emitter
WO2008021363
20.02.2008
Verfahren zur Herstellung von Speicherarrays
EP1662563
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.02.2008
Messungsinitialisierter Verzögerungsregelkreis mit Echtzeitmessung
EP1889367
Akustik, Musik & Datenspeicherung Elektronik & Schaltungstechnik
14.02.2008
Memory cell with nanodots as charge storage elements and corresponding manufacturing method
WO2008019039
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.02.2008
Zirconium Substituted Barium Titanate Gate Dielectrics
WO2008018994
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.02.2008
Polarfluidentfernung von Oberflächen unter Verwendung Superkritischer Fluide
EP1886341
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.02.2008
Speicherbaustein und Verfahren mit einem Datenumgehungsweg zur Ermöglichung einer Schnellen Prüfung und Kalibration
EP1886155
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
13.02.2008
System und Verfahren zur Modifikation der Rate eines Verborgenen Auffrischens
EP1886316
Akustik, Musik & Datenspeicherung
13.02.2008
Pixel mit Gitterkontakten über einen Aktiven Bereich und Verfahren zu deren Erzeugung
EP1886345
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.02.2008
Neuartiger Nichtflüchtiger Speicher mit Geringer Leistung und Gatestapel
EP1886356
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.02.2008
Abbildungsvorrichtung mit Pixelzelle mit Transparenter und Leitender Verbindungsleitung sowie Verfahren zur Herstellung der Pixelzelle
EP1886346
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.02.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Steuerung eines Verzögerungs- oder Phasenregelkreises als Funktion der Schleifenfrequenz
EP1884020
Elektronik & Schaltungstechnik
06.02.2008
Farbpixel mit Antivermehrungsisolation und Verfahren zu Ihrer Erzeugung
EP1883968
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2008
Nand Flash Memory Programming
WO2008013926
Akustik, Musik & Datenspeicherung
31.01.2008
Improved Sensing Capacitance in Column Sample And Hold Circuitry in A Cmos Imager And Improved Capacitor Design
WO2008014106
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.01.2008
Reduction in Size Of Column Sample And Hold Circuitry in A Cmos Imager
WO2008014104
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.01.2008
Method, apparatus and system for charge injection suppression in active pixel sensors
WO2008010893
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.01.2008
Verfahren zum Ätzen eines Oxids, zur Reduzierung von Rauheit und zur Formung von Kondensator-Konstruktionen
EP1880411
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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Technologiefelder

Akustik, Musik & Datenspeicherung
1.237
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.203
Software & Datenverarbeitung
1.005
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
239
Elektronik & Schaltungstechnik
139
Optik & Fototechnik
63
Metallurgie & Oberflächentechnik
56
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
38
Steuerungs- & Regelungstechnik
25
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
22
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
19
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
18

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