Micronas
🇩🇪 Deutschland
Micronas war ein deutsch-schweizerisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Freiburg, das inzwischen zu TDK gehört. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Nachrichtentechnik und Halbleitertechnik. Die Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2016.
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Patente
399 gesamt| Patent | |||
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27.11.2019
Komponente mit Reduzierten Spannungskräften im Substrat
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.06.2015
Erteilt am 27.11.2019
Vertretung
Zusammenfassung
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19.06.2019
Magnetischer Drucksensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2012
Erteilt am 19.06.2019
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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05.06.2019
Integrierter Elektronischer Schaltkreis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.11.2006
Erteilt am 05.06.2019
Vertretung
Göhring, Robert · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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13.03.2019
Sensorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2014
Erteilt am 13.03.2019
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
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06.03.2019
Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen einer Winkelposition eines rotierenden Gegenstandes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.09.2003
Erteilt am 06.03.2019
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Patentanwälte Westphal, Mussgnug & Partner · Villingen-Schwenningen
Zusammenfassung
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22.08.2018
Zeitkontinuierlicher Delta-Sigma-Modulator
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.04.2014
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
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15.08.2018
Magnetfeldmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.06.2016
Erteilt am 15.08.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
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25.07.2018
Integrierter Magnetfeldsensor und Verfahren für eine Messung der Lage eines ferromagnetischen Werkstückes mit einem integrierten Magnetfeldsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2012
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
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25.07.2018
Schichtsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2014
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Schichtsystem (10) mit einem Schichtbereich, wobei der Schichtbereich ein monokristallines Siliziumsubstrat (20) mit einer Vorderseite (22) und einer Rückseite (24) aufweist und wobei auf der Vorderseite (22) eine texturierte Oberfläche ausgebildet ist und die texturierte Oberfläche eine Topographie mit unterschiedlichen Höhen aufweist und auf der texturierten Oberfläche eine Dünnfilmschicht (30) aus einem Metalloxid und / oder einer Oxidkeramik ausgebildet ist, wobei die Dünnfilmschicht die texturierte Oberfläche bedeckt. Der Schichtbereich kann insbesondere als gassensitive Steuerelektrode in einen Suspended Gate Field Effect Transistor (SGFET) oder einen Capacitively Controlled Field Effect Transistor (CCFET) integriert sein. |
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18.07.2018
Testsystem für Funktionstest einer integrierten Schaltung mit Sensorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2013
Erteilt am 18.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Testsystem (10) mit einer Manipulationsvorrichtung (20) und einer Testeinheit (30), wobei die Manipulationsvorrichtung (20) eine Aufnahmeeinheit (40) mit einer Fassung (50) aufweist und die Fassung (50) einen gehäusten integrierten Schaltkreis (60) aufnimmt und der gehäuste integrierte Schaltkreis (60) eine Oberseite (62) und eine Unterseite (64) aufweist, und an der Unterseite (64)mehrere elektrische Anschlusskontakte (70) ausgebildet sind, und zwischen der Fassung (50) und den Anschlusskontakten (70) eine elektrische Verbindung besteht und die Manipulationsvorrichtung (20) mittels der Aufnahmeeinheit (40) in einem ersten Zustand den integrierten Schaltkreis (60) für die Testeinheit (30) bereitstellt, und wobei während des ersten Zustands die Testeinheit (30) oberhalb der Oberseite (62) des integrierten Schaltkreises (60) angeordnet ist und mit der Manipulationsvorrichtung (20) eine Verbindung ausbildet und die Testeinheit (30) einen Funktionstest an der integrierten Schaltung (60) ausführt, wobei an der Oberseite (62) eine Sensorvorrichtung ausgebildet ist und die Oberseite (62) des integrierten Schaltkreises (60) in Richtung der Testeinheit (30) ausgerichtet ist und die elektrischen Anschlusskontakte (70) mit der Aufnahmeeinheit (40) der Manipulationsvorrichtung (20) elektrisch verbunden sind. |
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