Micronas Patente
🇩🇪 Deutschland
Micronas war ein deutsch-schweizerisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Freiburg, das inzwischen zu TDK gehört. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Nachrichtentechnik und Halbleitertechnik. Die Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2016.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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399 gesamt| Patent | |||
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27.11.2019
Komponente mit Reduzierten Spannungskräften im Substrat
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.06.2015
Erteilt am 27.11.2019
Vertretung
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19.06.2019
Magnetischer Drucksensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2012
Erteilt am 19.06.2019
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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05.06.2019
Integrierter Elektronischer Schaltkreis
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.11.2006
Erteilt am 05.06.2019
Vertretung
Göhring, Robert · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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13.03.2019
Sensorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2014
Erteilt am 13.03.2019
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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06.03.2019
Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen einer Winkelposition eines rotierenden Gegenstandes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.09.2003
Erteilt am 06.03.2019
Vertretung
Patentanwälte Westphal, Mussgnug & Partner · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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22.08.2018
Zeitkontinuierlicher Delta-Sigma-Modulator
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.04.2014
Erteilt am 22.08.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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15.08.2018
Magnetfeldmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.06.2016
Erteilt am 15.08.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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25.07.2018
Integrierter Magnetfeldsensor und Verfahren für eine Messung der Lage eines ferromagnetischen Werkstückes mit einem integrierten Magnetfeldsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2012
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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25.07.2018
Schichtsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2014
Erteilt am 25.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Schichtsystem (10) mit einem Schichtbereich, wobei der Schichtbereich ein monokristallines Siliziumsubstrat (20) mit einer Vorderseite (22) und einer Rückseite (24) aufweist und wobei auf der Vorderseite (22) eine texturierte Oberfläche ausgebildet ist und die texturierte Oberfläche eine Topographie mit unterschiedlichen Höhen aufweist und auf der texturierten Oberfläche eine Dünnfilmschicht (30) aus einem Metalloxid und / oder einer Oxidkeramik ausgebildet ist, wobei die Dünnfilmschicht die texturierte Oberfläche bedeckt. Der Schichtbereich kann insbesondere als gassensitive Steuerelektrode in einen Suspended Gate Field Effect Transistor (SGFET) oder einen Capacitively Controlled Field Effect Transistor (CCFET) integriert sein. |
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18.07.2018
Testsystem für Funktionstest einer integrierten Schaltung mit Sensorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2013
Erteilt am 18.07.2018
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Testsystem (10) mit einer Manipulationsvorrichtung (20) und einer Testeinheit (30), wobei die Manipulationsvorrichtung (20) eine Aufnahmeeinheit (40) mit einer Fassung (50) aufweist und die Fassung (50) einen gehäusten integrierten Schaltkreis (60) aufnimmt und der gehäuste integrierte Schaltkreis (60) eine Oberseite (62) und eine Unterseite (64) aufweist, und an der Unterseite (64)mehrere elektrische Anschlusskontakte (70) ausgebildet sind, und zwischen der Fassung (50) und den Anschlusskontakten (70) eine elektrische Verbindung besteht und die Manipulationsvorrichtung (20) mittels der Aufnahmeeinheit (40) in einem ersten Zustand den integrierten Schaltkreis (60) für die Testeinheit (30) bereitstellt, und wobei während des ersten Zustands die Testeinheit (30) oberhalb der Oberseite (62) des integrierten Schaltkreises (60) angeordnet ist und mit der Manipulationsvorrichtung (20) eine Verbindung ausbildet und die Testeinheit (30) einen Funktionstest an der integrierten Schaltung (60) ausführt, wobei an der Oberseite (62) eine Sensorvorrichtung ausgebildet ist und die Oberseite (62) des integrierten Schaltkreises (60) in Richtung der Testeinheit (30) ausgerichtet ist und die elektrischen Anschlusskontakte (70) mit der Aufnahmeeinheit (40) der Manipulationsvorrichtung (20) elektrisch verbunden sind. |
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01.11.2017
Komponente mit Reduzierten Spannungskräften im Substrat
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.06.2015
Erteilt am 01.11.2017
Vertretung
Zusammenfassung
Eine Komponente (10) mit einem Magnetfeld-Sensor (30) ist beschrieben. Das elektronische Bauteil (30) befindet sich in einem Halbleiter-Substrat (20) oder auf der Oberfläche (25) des Halbleiter-Substrats (20) und ist von einem Graben (40) im Halbleiter-Substrat (20) zumindest zum Teil, vorzugsweise weitgehend umrandet. Der Graben (40) ist mit einem Füllmaterial (45) befüllt. |
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12.04.2017
Schichtsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2014
Erteilt am 12.04.2017
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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12.04.2017
Ic-Gehäuse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2016
Anhängig
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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29.03.2017
Dreidimensionaler Hallsensor zum Detektieren eines räumlichen Magnetfeldes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2014
Erteilt am 29.03.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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29.03.2017
Monolithische Sensoranordnung bzw. Verfahren zum Ansteuern einer monolithischen Sensoranordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.04.2007
Erteilt am 29.03.2017
Vertretung
Patentanwälte Westphal, Mussgnug & Partner · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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29.03.2017
Ic-Gehäuse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2016
Anhängig
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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15.02.2017
Halbleitergehäuse und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitergehäuses
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.12.2011
Erteilt am 15.02.2017
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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30.11.2016
Magnetfeldsensor und Verfahren zur Bestimmung der Offsetspannung eines Magnetfeldsensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.07.2012
Erteilt am 30.11.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Magnetfeldsensor aufweisend, einen Hallsensor mit einem ersten Anschlusskontakt und mit einem zweiten Anschlusskontakt und mit einem dritten Anschlusskontakt und mit einem vierten Anschlusskontakt und mit einem fünften Anschlusskontakt, wobei zwischen dem ersten Anschlusskontakt und dem fünften Anschlusskontakt ein erster Schalter mit einem Steuerungseingang vorgesehen ist und der erste Schalter den ersten Anschlusskontakt mit dem fünften Anschlusskontakt verbindet oder voneinander trennt und eine Steuerungseinheit vorgesehen ist und die Steuerungseinheit mit dem Steuerungseingang des ersten Schalters verbunden ist. |
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30.11.2016
Hallsensorvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2014
Erteilt am 30.11.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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30.11.2016
Hallsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.11.2016
Einrichtung und Verfahren zur Überwachung eines Stromes eines Leitungsabschnitts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.01.2013
Erteilt am 23.11.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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21.09.2016
Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2014
Erteilt am 21.09.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Messsystem mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors ( B ) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist, mit einem Geber (30), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) einer erste Periodizität (T1) aufweist, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der dritten Raumrichtung (y) eine zweite Periodizität (T2) aufweist, wobei eine erste Periode der ersten Periodizität (T1) und eine zweite Periode der zweiten Periodizität (T2) unterschiedlich sind, mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (20) eine Logik (25) aufweist, die eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (C) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen. |
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21.09.2016
Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.01.2014
Erteilt am 21.09.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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17.08.2016
Ic-Gehäuse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2016
Anhängig
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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18.05.2016
Verfahren zur Gasdetektion mit potentialgesteuertem Gassensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2001
Erteilt am 18.05.2016
Vertretung
Göhring, Robert · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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11.05.2016
Schaltung und Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.11.2013
Erteilt am 11.05.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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27.04.2016
Halbleiter-Gassensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2012
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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27.04.2016
Autarke Brennstoffzellenanordnung mit Elektrolyseanordnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.02.2005
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Göhring, Robert · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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27.04.2016
Kraftsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2012
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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30.03.2016
Drucksensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.11.2009
Erteilt am 30.03.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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23.03.2016
Vorrichtung zur Detektion eines Gases oder Gasgemischs und Verfahren zum Herstellen einer solchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.03.2016
Magnetfeldsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.12.2013
Anhängig
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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24.02.2016
ESD-Schutzstruktur mit parallelen Bipolartransitoren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.05.2001
Erteilt am 24.02.2016
Vertretung
Patentanwälte Westphal, Mussgnug & Partner · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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20.01.2016
Vorrichtung mit einem integrierten Schaltkreis
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.06.2012
Erteilt am 20.01.2016
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Zusammenfassung
Vorrichtung aufweisend, einen integrierten Schaltkreis und ein Schaltkreisgehäuse und einen ersten Anschlusskontakt und einen zweiten Anschlusskontakt und einen dritten Anschlusskontakt, wobei der erste Anschlusskontakt und der zweite Anschlusskontakt und der dritte Anschlusskontakt aus dem Schaltkreisgehäuse herausgeführt sind, und der erste Anschlusskontakt und der zweite Anschlusskontakt im Schaltkreisgehäuse jeweils an Anschlüsse des integrierten Schaltkreises zur Spannungsversorgung angeschlossen sind, und der dritte Anschlusskontakt im Schaltkreisgehäuse an einem Anschluss des integrierten Schaltkreises zur Signalübertragung angeschlossen ist, sowie einen ersten Kondensator und einen zweiten Kondensator, wobei der erste Kondensator und der zweite Kondensator in das Schaltkreisgehäuse integriert sind und der erste Kondensator an den ersten Anschlusskontakt angeschlossen ist, und der zweite Kondensator an den dritten Anschlusskontakt angeschlossen ist, wobei ein vierter Anschlusskontakt und ein fünfter Anschlusskontakt aus dem Schaltkreisgehäuse herausgeführt sind, und der erste Kondensator an den vierten Anschlusskontakt angeschlossen ist, und der zweite Kondensator an den fünften Anschlusskontakt angeschlossen ist. |
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16.12.2015
Brückenschaltung mit einer erhöhten Ausfallssicherheit
Elektrische Energietechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2013
Erteilt am 16.12.2015
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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28.10.2015
Aufnahmevorrichtung für eine Programmierbare, Elektronische Verarbeitungseinrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.01.2003
Erteilt am 28.10.2015
Vertretung
Sauer, Wolfgang, Dipl.-Ing · Freiburg im Breisgau
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
Patentanwälte Westphal, Mussgnug & Partner · Villingen-Schwenningen
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30.09.2015
Halbleiterbauelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.12.2007
Erteilt am 30.09.2015
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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23.09.2015
Halbleiterchip und Verfahren zum Erzeugen von Impulsflanken, die der Bewegung eines Mechanischen Teiles Synchron Zugeordnet Sind
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.11.2009
Erteilt am 23.09.2015
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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16.09.2015
Fehlerkorrektur- und Fehlererfassungsverfahren zum Auslesen von gespeicherten Informationsdaten und Speichersteuereinrichtung dafür
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.03.2007
Erteilt am 16.09.2015
Vertretung
Göhring, Robert · Villingen-Schwenningen
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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12.08.2015
Integriertes Bauelement mit Leitkleberverbindung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2012
Erteilt am 12.08.2015
Vertretung
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg
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Wer vertritt Micronas?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Micronas vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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