Mitutoyo Corporation
🇯🇵 Japan aktiv
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
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Patente
688 gesamt| Patent | |||
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05.08.2026
Verfahren zum Scannen eines Messraums eines Formmesssystems, Computerlesbares Programm und Formmesssystem
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Status
Angemeldet am 04.02.2025
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
The application relates to a method for generating a shape measurement program for measuring the shape of a workpiece, the method comprising the steps: scanning a measurement space of a shape measurement system with a movable and/or mobile scanning device comprising an imaging device to obtain scanning data; recognizing at least one workpiece in the measurement space by analyzing the scanning data; detecting a position and/or orientation of the at least one workpiece in the measurement space; and generating a shape measurement program including a collision free movement path for a measuring probe of the shape measurement system for measuring the shape of the at least one workpiece. Furthermore, the application relates to a method for conditioning a shape measurement of a workpiece, a method for defining a dimensional measurement equipment, DME, configuration of a shape measurement system, a method generating a shape measurement program for measuring the shape of a workpiece, to a corresponding computer program product and to a corresponding shape measurement system. |
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10.06.2026
Verfahren zur Automatischen Erzeugung eines Referenzpositionierungssystems, Rps, Ausrichtungsprogramm zur Formmessung eines Werkstücks
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
The application relates to a method for automatically generating a reference positioning system, RPS, alignment program for shape measurement of a workpiece, the method comprising the steps of: acquiring datum targets of the workpiece from CAD, computer aided design, model information of the workpiece; generating a coordinate system based on the datum targets; determining alignment of the workpiece; and generating, using the coordinate system, a collision free workpiece program and/or a collision free movement path for a measuring probe of a shape measurement system. |
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13.05.2026
Verfahren zum Kombinieren von Höhenkarten und Profilometer dafür
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
The invention relates to a method for measuring a first height map and a second height map of a sample surface with a profilometer and combining the first and second height maps to a composite height map. The invention further relates to a profilometer configured for measuring a first height map and a second height map and combining the first and second height maps to a composite height map. |
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13.05.2026
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Lokalen Höhe einer Probenoberfläche
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Zusammenfassung
The current inventions relates to a method for determining a local height of a location on a sample surface. The invention further relates to a structured light microscope for determining a local height of a location on a sample surface. The invention further relates to a computer readable data carrier comprising a computer program that, when run on a processor of an structured light microscope according to the invention, causes the structured light microscope to perform the method according to the invention. |
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29.04.2026
Verfahren zum Kombinieren von Höhenkarten und Profilometer dafür
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
The invention relates to a method for measuring a first height map and a second height map of a sample surface with a profilometer and combining the first and second height maps to a composite height map. The invention further relates to a profilometer configured for measuring a first height map and a second height map and combining the first and second height maps to a composite height map. |
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04.03.2026
Telezentrisches Optisches Gerät
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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05.02.2026
Measurement device, drive unit, measurement system, and measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2024
Anhängig
Zusammenfassung
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15.01.2026
Light irradiation device and measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.07.2024
Anhängig
Zusammenfassung
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07.01.2026
Induktiver Positionssensor mit Positionserkennungskonfigurationen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.06.2025
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
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02.01.2026
Method and device for determining a height map
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2025
Anhängig
Zusammenfassung
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