Teradyne Patente
🇺🇸 USA
Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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462 gesamt| Patent | |||
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03.09.2003
Mechanismus zum Festklemmen einer Geräte-Interface-Karte an eine Peripherie-Einheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.08.2003
Selbstausrichtender Elektrischer Verbinder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2003
Anhängig
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06.08.2003
Prüfkopfantriebssystem mit Positionierungs- und Nachgebemodus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.07.2003
Automatische Vorrichtung zur Optischen Inspektion mit Fördervorrichtung
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.01.2003
Anhängig
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24.07.2003
Kapazitiv Gekoppelte Wieder-Referenzierungsschaltung mit Transientunterdrückung
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2002
Anhängig
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17.07.2003
Dft-Leckeffekt-Elimination für nicht Kohärent Abgetastete Signale
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2002
Anhängig
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02.07.2003
Hochleistungstestvorrichtung Schnittstellenmodule
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.06.2003
Hochgeschwindigkeits-Kontaktloch einer Mehrschichtigen Leiterplatte
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2002
Anhängig
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11.06.2003
Parallelprüfer für Halbleiterschaltungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 28.06.2000
Erteilt am 11.06.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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22.05.2003
Clock architecture for a frequency-based tester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.11.2002
Anhängig
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21.05.2003
Automatische Testeinrichtung mit Sigma-Delta Modulation zur Erzeugung von Referenzpegeln
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2000
Erteilt am 21.05.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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21.05.2003
Testadapter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2000
Erteilt am 21.05.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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21.05.2003
Digitale Frequenzsynthese mit Rauschformung
Software & Datenverarbeitung
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23.04.2003
Billige Taktsteuervorrichtung für ein Hochgenaues Multimodal-Halbleiterprüfgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2000
Erteilt am 23.04.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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10.04.2003
Löt-/entlötvorrichtung mit einer Integrierten Heizdüse und einem Aufnahmerohr
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2002
Anhängig
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03.04.2003
Struktur mit Mehrfachen A/d-Wandlern unter Verwendung Digitaler Frequenzweichen
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 10.09.2002
Anhängig
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02.04.2003
Mustergenerator für eine Testvorrichtung von Paketbasierten Speichern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 07.01.2000
Erteilt am 02.04.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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02.04.2003
Optisches system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.04.2003
Bildverarbeitungssystem zur Verwendung mit Inspektionssytemen
Software & Datenverarbeitung
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12.03.2003
Verfahren zur Verkehrsmessung in Internetroutern
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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05.03.2003
Ate-Zeitmessungseinheit und -Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.02.2003
Verfahren und Gerät zur Halbleiterprüfung mit Temperaturverlustleistungskontrolle
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2002
Anhängig
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15.01.2003
Fehleranalyse der Konfiguration eines Personalcomputers
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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09.01.2003
Direkte Innenschichtverbindung für eine Hochgeschwindigkeitsleiterplatte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 24.06.2002
Anhängig
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02.01.2003
Serienschalter-Treiberarchitektur für eine Automatische Testeinrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.02.2000
Erteilt am 02.01.2003
Vertretung
Luckhurst, Anthony Henry William · London
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27.11.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Abschlusserkennung in einer Adsl Umgebung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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14.11.2002
Differentiale Empfängerarchitektur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.05.2002
Anhängig
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14.11.2002
Facilitating comparisons between simulated and actual behavior of electronic devices
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.05.2002
Anhängig
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13.11.2002
Werkzeug zur Analyse von Netzwerkfehlern
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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13.11.2002
Elektrischer Differenzsignalverbinder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.11.2002
Druckverbinder für Hohe Übertragungsgeschwindigkeiten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.10.2002
Vorrichtung und Methode zum Automatischen Schalten zwischen Unterschiedlichen Rückkopplungs-Moden
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2002
Anhängig
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26.09.2002
Ate Kalibrierverfahren und Entsprechende Testvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.03.2002
Anhängig
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28.08.2002
Teilnehmerleitungsqualifizierung mittels Neuronalem Netwerk Bezüglich den Datenübertragungseigenschaften
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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08.08.2002
Techniken zur Reinigung der Optischen Grenzfläche eines Optischen Verbindungssystems
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2002
Anhängig
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25.07.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Analyse der Auswirkung des Brückenabgriffs
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 19.10.2001
Anhängig
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17.07.2002
Leicht zu Programmierendes Automatisches Testgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.07.2002
Struktur zur Temperaturkontrolle durch Aufprall
Steuerungs- & Regelungstechnik
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23.05.2002
Methoden und Apparate zur Bildung einer Faseroptischen Verbindung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.11.2001
Anhängig
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18.04.2002
Optische Rückwandverdrahtung und Verfahren zu deren Herstellung
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 02.10.2001
Anhängig
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Wer vertritt Teradyne?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Teradyne vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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