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Teradyne Patente

🇺🇸 USA

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

462 gesamt
Patent
03.08.2005
Treiber mit Verlustkompensation der Übertragungsstrecke
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
27.07.2005
Adsl test system
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
21.07.2005
High Speed Connector Assembly
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.07.2005
Modular Rackmount Chiller
Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik
06.07.2005
Mehrstufiger numerisch gesteuerter Oszillator
Software & Datenverarbeitung
06.07.2005
Apparat und Verfahren zur Einschubkontrolle eines Moduls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
06.07.2005
Parallele Quellen- und Erfassungsarchitektur für automatische Testsysteme
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.07.2005
Differentielle aktive Last
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.07.2005
Silizium-auf-Isolator Kanalarchitektur für ein automatisches Testsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.06.2005
DDS-Schaltung mit einem beliebigen frequenzbestimmenden Takt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
08.06.2005
Kompakter Automatischer Tester (ate) mit Zeitstempel-System
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
01.06.2005
Kalibrierung von Einseitig Abgeschlossenen Kanälen zur Erzielung Differentielles Signal-Niveau
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2005
Techniken zur Ausbildung von Faseroptischen Verbindungen in Modularer Weise
Optik & Fototechnik
04.05.2005
Matrixsteckverbinder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2005
Verfahren und Vorrichtung zur Selektiven Beleuchtung und zum Schutz einer Optischen Schnittstelle mit einem Film
Verfahrens- & Trenntechnik Optik & Fototechnik
17.03.2005
High Speed, High Density Electrical Connector
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.03.2005
Two-phase cooling apparatus and method for automatic test equipment
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2005
Hochfrequenzkämme für die Abstimmungsdriftreduzierende Schleife Verwendender, Rauscharmer Mikrowellensynthesizer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2005
Pneumatisch Betriebenes Andockmodul mit Automatischem Entkoppelungsmechanismus bei Stromausfall
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2005
Einachsenmanipulator mit Geregelter Nachgiebigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2005
Test system with high accuracy time measurement system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29.12.2004
Treiberschaltung mit Triplezustand für Testautomat
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
29.12.2004
Matrixsteckverbinder mit Integriertem Stromkontakt
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2004
Technik zum Programmieren von Uhren in einem Automatischen Testsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.11.2004
Steckverbinder mit Abschirmung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2004
Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Quellen-Synchronen Integrierten Schaltungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2004
Hochgeschwindigkeitsfehlererfassungsgerät und Verfahren für Automatische Testeinrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.06.2004
Modulares Faseroptisches Verbindungssystem
Optik & Fototechnik
16.06.2004
Hochauflösende Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Taktverschiebungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.06.2004
Steckerstift mit Exakten Beschränkungsprinzipien
Optik & Fototechnik
02.06.2004
Druckverbinder für hohe Uebertragungsgeschwindigkeiten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.05.2004
Verfahren zum Testen von Web-Basierten Softwareobjekten
Software & Datenverarbeitung
07.04.2004
Verfahren mit Geringem Leckeffekt zur Bestimmung der Kraftspektren von nicht Kohärent Abgetasteten Daten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.02.2004
Dynamisch Ermittelte Werte Verwendendes Inspektionssystem und Zugehörige Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
08.01.2004
Instrument initiated communication for automatic test equipment
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.12.2003
Verfahren und Vorrichtung zum Reinigen von Optischen Steckverbindern
Verfahrens- & Trenntechnik Optik & Fototechnik
12.11.2003
Faseroptische Rückseitenplatte Hoher Dichte, Herstellungsverfahren für Selbige, und Faseroptisches Netzwerk mit Faseroptischer Rückseitenplatte
Optik & Fototechnik
29.10.2003
Manipulator für eine Automatische Testeinrichtung mit Innerhalb des Testkopfs Befindlicher Stütze
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.10.2003
Fehlererfassungsgerät und Verfahren für Automatische Test-Einrichtung
Software & Datenverarbeitung Akustik, Musik & Datenspeicherung
24.09.2003
Willkürliche Längenerweiterung eines Synchronen Busses mit Originalem Busprotokoll
Software & Datenverarbeitung

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