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Teradyne Patente

🇺🇸 USA

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

462 gesamt
Patent
22.10.2009
Temperature control within storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
22.10.2009
Dependent temperature control within storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
22.10.2009
Temperature control within storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
22.10.2009
Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems
Steuerungs- & Regelungstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.10.2009
Bulk Feeding Disk Drives To Disk Drive Testing Systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
22.10.2009
Enclosed operating area for disk drive testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.10.2009
Transferring storage devices within storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.10.2009
Disk drive emulator and method of use thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.10.2009
Transferring Disk Drives Within Disk Drive Testing Systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.10.2009
Bulk feeding storage devices to storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.10.2009
Temperature control within storage device testing systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
22.10.2009
Dependent Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik
27.08.2009
Test system with high frequency interposer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2009
Disk drive transport, clamping and testing
Software & Datenverarbeitung Akustik, Musik & Datenspeicherung
25.06.2009
Disk Drive Testing
Akustik, Musik & Datenspeicherung
25.06.2009
Disk Drive Testing
Akustik, Musik & Datenspeicherung
17.06.2009
V/I-Quelle und Testsystem damit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.06.2009
Vacuum assisted manipulation of objects
Verpackungs- & Fördertechnik
22.05.2009
Method and apparatus for computing interpolation factors in sample rate conversion systems
Elektronik & Schaltungstechnik
09.04.2009
Emulating behavior of a legacy test system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.03.2009
X-Ray Inspection Of Solder Reflow in High-Density Printed Circuit Board Applications
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2009
Differential Pair Circuit
Elektronik & Schaltungstechnik
29.01.2009
Phase Locking On Aliased Frequencies
Elektronik & Schaltungstechnik
21.01.2009
Elektrischer Steckverbinder mit Leitenden Kunststoffelementen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2009
Automatisches Testsystem mit Leicht Modifizierter Software
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2009
Eingrenzung von Netzwerkfehlern
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
27.11.2008
Calibrating Jitter
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
19.11.2008
Schneller, Dichter Elektrischer Verbinder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.11.2008
Qualifizierung von Teilnehmeranschlussleitungen für Datenübertragung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.10.2008
Cost Effective Low Noise Single Loop Synthesizer
Elektronik & Schaltungstechnik
16.10.2008
Calibrating a tester using esd protection circuitry
Software & Datenverarbeitung
09.10.2008
Timing interpolator with improved linearity
Elektronik & Schaltungstechnik
09.10.2008
Residual fourier-padding interpolation for instrumentation and measurement
Software & Datenverarbeitung
10.09.2008
Flexible Schnittstelle für ein Universelles Bus-Testinstrument
Software & Datenverarbeitung
28.08.2008
Electrically stimulated fingerprint sensor test method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.08.2008
Design-For-Test Micro Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.08.2008
Prüfsystem zur Messung differentieller Signale
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
14.08.2008
Distributing Data Among Test Boards To Determine Test Parameters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
13.08.2008
Kalibrierungsnetzeinrichtung für Wechselstrom mit Pin-Diode Matrix
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.08.2008
Voraussage der Leistungsfähigkeit von Telefonleitungen für Datendienste
Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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