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Teradyne Patente

🇺🇸 USA

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

462 gesamt
Patent
31.07.2008
Rotational positioner and methods for semiconductor wafer test systems
WO2008091550
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.07.2008
Error reduction for parallel, time-interleaved analog-to-digital converter
WO2008082835
Elektronik & Schaltungstechnik
10.07.2008
Identifying Periodic Jitter in A Signal
WO2008083265
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.07.2008
Compensating For Harmonic Distortion in an Instrument Channel
WO2008083269
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
19.06.2008
Conductive shielding device
WO2008073115
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
12.06.2008
Quantized data-dependent jitter injection using discrete samples
WO2008070706
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.06.2008
Pin-Elektronik-Treiber
EP1929318
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.06.2008
Strobe-Technik zum Testen des Digitalen Signaltiming
EP1927203
Akustik, Musik & Datenspeicherung
04.06.2008
Strobe-Technik zur Zeitstempelung eines Digitalen Signals
EP1927204
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
04.06.2008
Strobe-Technik zum Wiedergewinnen eines Takts in einem Digitalen Signal
EP1927210
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
07.05.2008
Spannungsversorgung für Prüflinge, mit Hoher Geschwindigkeit und Hoher Genauigkeit und mit Aktiver Boostschaltung
EP1466185
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2008
Adaptive background propagation method and device therefor
WO2008048539
Software & Datenverarbeitung
16.04.2008
Programmierbarer Pin-Elektroniktreiber
EP1910851
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.04.2008
Erhalt von Testdaten für eine Vorrichtung
EP1910856
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Networked test system
WO2008042113
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Sine wave generator with dual port look-up table
WO2008042114
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Liquid Immersion Cooled Multichip Module
WO2008042129
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
10.04.2008
Tester Input/output Sharing
WO2008042168
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.04.2008
Low Cost, High Purity Sine Wave Generator
WO2008042254
10.04.2008
Structure for holding a printed circuit board assembly
WO2008042940
Elektronik & Schaltungstechnik
10.04.2008
Method and apparatus for cooling non-native instrument in automatic test equipment
WO2008042248
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.04.2008
Signal analysis using dual converters and cross spectrum
WO2008039528
02.04.2008
Vorrichtung und Verfahren zum Erhalten eines Einrichtungssignalwerts unter Verwendung eines Ternären Suchprozesses
EP1904863
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.04.2008
Pin-Elektronik-Treiber
EP1904865
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.03.2008
Leiterplattenübersetzer von Verbinder zu Kontaktstelle und Herstellungsverfahren
EP1900065
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.03.2008
Jitter-Kompensation und -Erzeugung Beim Prüfen von Kommunikationsgeräten
EP1897263
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
12.03.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Reduzierung der Lautstärke bei Gleichzeitigem Schalten
EP1896800
Elektronik & Schaltungstechnik
12.03.2008
Steckverbinder-Pad-Übersetzer für eine Bestückte Leiterplatte und Herstellungsverfahren dafür
EP1896861
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
13.02.2008
Direkter digitaler Synthesizer mit niedrigem Flimmern
EP1548543
Software & Datenverarbeitung
13.02.2008
Verlustkompensation in einem Übertragungsweg
EP1886157
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.02.2008
Impedanzgesteuerte Durchgangsstruktur
EP1884145
Elektronik & Schaltungstechnik
16.01.2008
Erfassung und Auswertung von Hochgeschwindigkeitsdatenströmen
EP1307755
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.01.2008
Calibration device
WO2008005362
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.01.2008
Lagebewusste Objekte
EP1875254
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.01.2008
Calibrating a testing device
WO2008002316
Software & Datenverarbeitung
26.12.2007
Testsystem für Smart Cards, Identifikationsgeräte und Ähnliches
EP1870726
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
12.12.2007
Verfahren und System zum Erzeugen von Signalen zum Prüfen von Halbleiterbausteinen
EP1864144
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2007
Kalibrierung Automatischer Testgeräte
EP1864288
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
14.11.2007
Effiziente Schaltarchitektur mit Verringerten Stub-Längen
EP1668376
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.10.2007
Halbleiterprüfsystem mit Leicht Wechselbarer Schnittstelleneinheit
EP1495339
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Wer vertritt Teradyne?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Teradyne vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
255
Elektronik & Schaltungstechnik
76
Software & Datenverarbeitung
57
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
56
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
52
Akustik, Musik & Datenspeicherung
50
Optik & Fototechnik
25
Steuerungs- & Regelungstechnik
15
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
11
Verpackungs- & Fördertechnik
4
Verfahrens- & Trenntechnik
4
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
3

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