Carl Zeiss Microscopy GmbH
🇩🇪 Deutschland aktiv
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Patente
609 gesamt| Patent | |||
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04.03.2026
Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2022
Erteilt am 04.03.2026
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein computerimplementiertes Verfahren (40) zum Erzeugen einer Tiefenkarte eines Bereichs einer Oberfläche eines Werkstücks (12), mit den folgenden Schritten: Empfangen (42) eines Fokalbildstapels, wobei der Fokalbildstapel eine Mehrzahl von Bildern des Werkstücks (12) aufweist, wobei die Bilder den Bereich der Oberfläche des Werkstücks (12) mit in einer Tiefenrichtung unterschiedlichen, definierten Fokalebenenpositionen (22) abbilden, wobei jedem Bild des Fokalbildstapels eine Fokalebenposition (22) zugeordnet ist, wobei Bildpunkte der Bilder jeweils einem entsprechendem Objektpunkt auf der Oberfläche des Werkstücks (12) zugeordnet sind; Bestimmen (44) eines Fokuswerts jedes Bildpunkts jedes Bildes des Fokalbildstapels; Einpassen (46) einer Funktion entlang der Tiefenrichtung (20) an die Fokuswerte derjenigen Bildpunkte der Bilder, die demselben Objektpunkt zugeordnet sind; Bestimmen (48) eines Tiefenwerts jedes Objektpunkts auf der Oberfläche des Werkstücks (12) in der Tiefenrichtung (20) basierend auf einem Extremum der eingepassten Funktion; und Erzeugen (50) der Tiefenkarte des Bereichs der Oberfläche des Werk-stücks (12) basierend auf den bestimmten Tiefenwerten. Des Weiteren betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren (60) zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12), ein Messgerät zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12) und ein Computerprogrammprodukt. |
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25.02.2026
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Helligkeitsinformationen einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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18.02.2026
Mikroskop und Verfahren zur Formung eines Mikroskopischen Bildes mit Erweiterter Tiefenschärfe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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18.02.2026
Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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11.02.2026
Materialprüfung mit Winkelvariabler Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Zusammenfassung
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28.01.2026
Beleuchtungsmodul für Winkelselektive Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
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14.01.2026
Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit Gesteigerter Auflösung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2010
Erteilt am 14.01.2026
Vertretung
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02.01.2026
Elektronendetektor für ein Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2025
Anhängig
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31.12.2025
Verfahren und System zur Ereignisbasierten Bildgebung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.07.2021
Erteilt am 31.12.2025
Vertretung
RDL Patentanwälte PartG mbB · Stuttgart
Zusammenfassung
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24.12.2025
Bildsensor und Verfahren zur Herstellung eines Bildsensors
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 17.07.2023
Erteilt am 24.12.2025
Vertretung
Zusammenfassung
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