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Carl Zeiss Jena Patente

🇩🇪 Deutschland

Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

388
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
20
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

388 gesamt
Patent
18.01.2006
Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit Linienscanner
Optik & Fototechnik
11.01.2006
Mikroskopanordnung
Optik & Fototechnik
29.12.2005
Programmgesteuertes Mikroskop und Verfahren zur Externen Steuerung von Mikroskopen
Optik & Fototechnik
15.12.2005
Kamera
Optik & Fototechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
16.11.2005
Elektronisches Mikroskop
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
10.11.2005
Lichtblendenvorrichtung für Mikrotestplatten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.11.2005
Greifvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
27.10.2005
Beleuchtungseinheit für Mikroskope, bei der das Leuchtmittel auf einem Schubladenähnlichen Einschub Angeordnet Ist
Optik & Fototechnik
29.09.2005
Afokales Zoomsystem
Optik & Fototechnik
22.09.2005
Tubuslinseneinheit mit Chromatisch Kompensierender Wirkung
Optik & Fototechnik
14.09.2005
Mikroskop
Optik & Fototechnik
14.09.2005
Verfahren und Anordnung zur Optischen Untersuchung Und/oder Bearbeitung einer Probe
Optik & Fototechnik
14.09.2005
Anzeigevorrichtung mit anamorphotischen Prismen
Optik & Fototechnik
10.08.2005
Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke und Wachstumsgeschwindigkeit einer Eisschicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.08.2005
Anordnung zur Polarisation von Licht
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
27.07.2005
Mikroskop mit mindestens zwei Strahlteilern
Optik & Fototechnik
27.07.2005
Anordnung zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter oder rückgestreuter Lichtstrahlung mit Doppelobjektivanordnung
Optik & Fototechnik
13.07.2005
Auflicht-Fluoreszenz-Stereomikroskop
Optik & Fototechnik
07.07.2005
Verfahren zur Spektroskopischen Analyse einer Biologischen oder Chemischen Substanz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.06.2005
Apochromatischer Kondensor
Optik & Fototechnik
22.06.2005
Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
Optik & Fototechnik
01.06.2005
Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
25.05.2005
Anordnung zum Projizieren eines Bildes auf eine Projektionsfläche
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.05.2005
Stereomikroskop
Optik & Fototechnik
25.05.2005
Mikroskopkamera
Optik & Fototechnik
19.05.2005
Invertierbares Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
12.05.2005
Festk Rpergelenkf Hrungen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Maschinenelemente & Fluidtechnik
11.05.2005
Optische Anordnung mit Telezentrischem Strahlenbereich
Optik & Fototechnik
27.04.2005
Gasprobenbehälter für einen Gasanalysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.04.2005
Lumineszenz-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
31.03.2005
Festk Rper-Immersionslinsen-Spektroskopie und -Mikroskopie
Optik & Fototechnik
30.03.2005
Frei platzierbare Anzeigeeinrichtung für Mikroskop- und/oder Bilddaten
Optik & Fototechnik
16.03.2005
Anordnung zur Scharfeinstellung für Mikroskope
Optik & Fototechnik
16.03.2005
Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
16.02.2005
Kompakte Vorrichtung zur Anamorphotischen Abbildung der Oberfläche von Gegenständen unter Verwendung eines Reflektierenden Prismas
Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik
09.02.2005
Erkennung der Maximalposition eines Revolvers in Mikroskopen
Optik & Fototechnik
09.02.2005
Laser-Scanning-Mikroskop mit mindestens vier Einkoppelstellen zu Beleuchtungszwecken
Optik & Fototechnik
13.01.2005
Verfahren und Anordnung zur Eliminierung von Falschlicht
Optik & Fototechnik

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