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Carl Zeiss Jena Patente

🇩🇪 Deutschland

Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

388
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
20
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

388 gesamt
Patent
30.08.2006
Anordnung und Verfahren zur Kompensation der Temperaturabhängigkeit von Detektoren in Spektrometern
EP1684056
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.08.2006
Anordnung und Verfahren zum polarisationsoptischen Interferenzkontrast
EP1359453
Optik & Fototechnik
26.07.2006
Vorrichtung und Verfahren zur Fokuskontrolle in einem Mikroskop mit digitaler Bildgebung, vorzugsweise einem konfokalen Mikroskop
EP1293817
Optik & Fototechnik
12.07.2006
Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Non-Descannten Detektions- Und/oder Beobachtungsstrahlengang
EP1678546
Optik & Fototechnik
21.06.2006
Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und ihre Verwendung
EP1672404
Optik & Fototechnik
14.06.2006
Verfahren und Vorrichtung zur Verminderung von Speckle in einem Optischen System
EP1438628
Optik & Fototechnik
07.06.2006
Mehr-Photonen-Fluoreszenzmikroskop mit Flächendetektor
EP1664886
Optik & Fototechnik
07.06.2006
Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop
EP1664887
Optik & Fototechnik
01.06.2006
Objektiv-Tisch-System F]r Mikroskope
WO2006056178
Optik & Fototechnik
17.05.2006
Stereoskopisches Mikroskopobjektiv
EP1519210
Optik & Fototechnik
03.05.2006
Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop
EP1617271
Optik & Fototechnik
13.04.2006
Mikroskopobjektiv
WO2006037473
Optik & Fototechnik
13.04.2006
Fluoreszenzmikroskop mit mindestens einem Absorptionsfilter zur Reflexunterdrückung Unerwünschten Beleuchtungslichts
WO2006037528
Optik & Fototechnik
29.03.2006
Schutzvorrichtung gegen Feuchtigkeitseintritt für ein Inverses Mikroskop
EP1322987
Optik & Fototechnik
22.03.2006
Reflektorrevolver für ein Inverses Mikroskop
EP1334396
Optik & Fototechnik
22.03.2006
Verefahren zur Fluoreszenzmikroskopie
EP1636624
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.03.2006
Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung
EP1617267
Optik & Fototechnik
15.03.2006
Lichtrastermikroskop mit einem Beleuchtungsmodul
EP1617268
Optik & Fototechnik
08.03.2006
Projektionsvorrichtung
EP1631854
Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.03.2006
Fluoreszenzmikroskop
EP1295159
Optik & Fototechnik
01.03.2006
Anordnung und ein Verfahren zur Erkennung von Schichten, die auf Oberfl Chen von Bauteilen Angeordnet Sind, und Bestimmung De Ren Eigenschaften
EP1629254
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.02.2006
Korrektur-Vorrichtung für eine optische Anordnung und konfokales Mikroskop mit einer solchen Vorrichtung
EP1624329
Optik & Fototechnik
15.02.2006
Einstellbares Pinhole, insbesondere für ein Laser-Scanning-Mikroskop
EP1625428
Optik & Fototechnik
08.02.2006
Trinokulartubus für Stereomikroskope
EP1533641
Optik & Fototechnik
26.01.2006
Linearf]hrung mit W[lzk\rpern
WO2006008024
Maschinenelemente & Fluidtechnik Optik & Fototechnik
25.01.2006
Verfahren zur Kompression von 3D Bilddatensätzen
EP1619626
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
18.01.2006
Verfahren zur Erfassung eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
EP1617262
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1617205
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.01.2006
Verfahren zur Kompression von 3D Bilddatensätzen
EP1617378
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und dessen Verwendung
EP1617261
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Verfahren zur Erfassung von Bildern einer Probe mit einem Lichtrastermikroskop
EP1617377
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
18.01.2006
Verfahren zur Kompression von 3D Bilddatensätzen
EP1617379
Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung
18.01.2006
Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit Einheit zur Transformation der Beleuchtungsintensitätsverteilung
EP1617257
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
EP1617249
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung und Verwendung des Mikroskops
EP1617256
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes mit linienförmiger Abtastung
EP1617254
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und dessen Verwendung
EP1617258
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung
EP1617250
Optik & Fototechnik
18.01.2006
Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP1617206
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
18.01.2006
Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit Einheit zur Transformation der Beleuchtungsintensitätsverteilung
EP1617272
Optik & Fototechnik

Wer vertritt Carl Zeiss Jena?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Jena vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Optik & Fototechnik
318
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
64
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
36
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
25
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
24
Software & Datenverarbeitung
19
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
13
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10
Medizintechnik & Gesundheit
9
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
5
Elektrische Energietechnik
4
Elektronik & Schaltungstechnik
3

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