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Dr. Johannes Heidenhain Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.

595
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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595 gesamt
Patent
07.06.2006
Verfahren und Vorrichtung zum Anbringen eines Massstabes
EP1041363 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
07.06.2006
Verfahren zur Bestimmung des Massenträgheitsmomentes eines elektromotorischen Antriebssystems
EP1388732 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
26.04.2006
Vorrichtung zum Drehen eines Körpers um Zwei Achsen
EP1269068 Maschinenelemente & Fluidtechnik erteilt
19.04.2006
Verfahren zur absoluten Positionsbestimmung
EP1195579 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
05.04.2006
Winkelmesssystem
EP1236023 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
05.04.2006
Winkelmesssystem
EP1225428 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
29.03.2006
Verfahren und Anordnung zur Datenübertragung zwischen verschiedenen Speichereinheiten von Positionsmesseinrichtungen
EP1071019 Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung erteilt
08.03.2006
Massverkörperung und Positionsmesseinrichtung mit einer Derartigen Massverkörperung
EP1234160 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
08.03.2006
Verfahren zur Interpolation mindestens Zweier Positionsabhängiger, Periodischer, Zueinander Phasenverschobener Analogsignale
EP1468496 Elektronik & Schaltungstechnik erteilt
22.02.2006
Verfahren zum Betrieb einer Positionsmesseinrichtung
EP1395885 Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt
14.12.2005
Winkelmessgerät und dessen Verwendung
EP1245932 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
23.11.2005
Längenmesstaster
EP1379832 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
16.11.2005
Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung von Konturtaschen Definiert durch Csg
EP1428180 Steuerungs- & Regelungstechnik Software & Datenverarbeitung erteilt
16.11.2005
Längenmesseinrichtung
EP1529197 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
28.09.2005
Längen- oder Winkelmessgerät mit Differentialschraube zur Moire-Einstellung
EP1313998 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
17.08.2005
Abtasteinheit für eine Optische Positionsmesseinrichtung
EP1279005 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
27.07.2005
Positionsmesseinrichtung
EP1468254 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik erteilt
20.07.2005
Getriebe sowie mit Diesem Getriebe Ausgestatteter Drehgeber
EP1481178 Maschinenelemente & Fluidtechnik erteilt
01.06.2005
Reflexions-Messteilung
EP1132719 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
16.03.2005
Kupplung und Verwendung Dieser Kupplung in einer Winkelmesseinrichtung
EP1203203 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
16.03.2005
Abtasteinheit für eine Optische Positionsmesseinrichtung
EP1279004 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente erteilt
16.03.2005
Verfahren zur Positionsmessung und Positionsmesseinrichtung zur Ausführung des Verfahrens
EP1334332 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
09.03.2005
Positionsmesseinrichtung
EP1319170 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
09.03.2005
Längenmessvorrichtung
EP1346189 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
02.02.2005
Winkelmesssystem
EP1211482 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
03.11.2004
Positionsmesseinrichtung
EP1206684 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
08.09.2004
Vorrichtung und Verfahren zur Erstellung und/oder Änderung von NC-Programmen oder NC-Tabellen
EP1315057 Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt
04.08.2004
Verbund aus Flächigen Leiterelementen
EP1371273 Elektronik & Schaltungstechnik erteilt
06.05.2004
Verfahren zur Ermittlung von Zeitkonstanten eines Referenzmodelles in einer Kaskadierten Regelungsanordnung
EP1226472 Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt
07.04.2004
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Lagesollwerten für einen Lageregelkreis einer Numerisch Bahngesteuerten Maschine
EP1226476 Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt
13.08.2003
Positionsmesssystem und Verfahren zur Montage dafür
EP1334333 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.08.2003
Verfahren zum Synchronisierten Hochlauf einer Numerischen Steuerung
EP1185910 Steuerungs- & Regelungstechnik erteilt
02.07.2003
Optische Positionsmesseinrichtung
EP1173726 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
11.06.2003
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Korrektur von Periodischen Signalen eines Inkrementalen Positionsmesssystems
EP1166047 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
28.05.2003
Reflexions-Massverkörperung und Verfahren zur Herstellung einer Relexions-Massverkörperung
EP1206685 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
14.05.2003
Kompensierter Parallel-Strahlteiler mit zwei Platten sowie Interferometer
EP1031868 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik erteilt
16.04.2003
Optische Positionsmesseinrichtung
EP1028309 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik erteilt
27.11.2002
Verfahren zum Speichern von Daten in einer Datei eines Datenspeichersystems
EP1259884 Software & Datenverarbeitung

Wer vertritt Dr. Johannes Heidenhain?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Dr. Johannes Heidenhain vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
487
Steuerungs- & Regelungstechnik
58
Elektrische Energietechnik
29
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
23
Optik & Fototechnik
22
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22
Software & Datenverarbeitung
18
Elektronik & Schaltungstechnik
15
Maschinenelemente & Fluidtechnik
14
Akustik, Musik & Datenspeicherung
8
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
7

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