Hamamatsu Photonics Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.968 gesamt| Patent | |||
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15.01.2025
Strahlungsdetektionsvorrichtung, Strahlungsdetektionssystem und Strahlungsdetektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.01.2025
Lichtquellenvorrichtung und Steuerungsverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.03.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.01.2025
Photovervielfacherröhre
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.01.2025
Vorrichtung zur Bestrahlung mit Energiestrahlen
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.01.2021
Erteilt am 08.01.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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01.01.2025
Optische Detektionsschaltung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
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Zusammenfassung
An observation apparatus 1A is an apparatus for observing a moving observation object S, and includes a light source 11, a beam splitter 12, mirrors 13 and 14, a beam splitter 15, a modulation unit 21, lenses 31 to 34, an imaging unit 41, and a processing unit 42. The modulation unit 21 inputs first split light L1 arriving from the mirror 13, spatially amplitude modulates the input first split light L1 based on a modulation pattern, and causes the first split light to include a plurality of light components having wavenumber components in a moving direction of the observation object S different from each other. The processing unit 42 generates a complex amplitude image when the observation object S is irradiated with each of the plurality of light components based on a detection signal repeatedly output from the imaging unit 41. Thus, an apparatus capable of easily observing a moving observation object is realized. |
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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26.12.2024
Beobachtungsvorrichtung und Beobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.12.2024
Bildgebungseinheit und Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.12.2024
Vorbehandlungsverfahren für Fluoreszenzbilddiagnose
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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18.12.2024
Lichtemittierendes Element und Lichtemittierende Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.10.2019
Erteilt am 18.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.12.2024
Brechungsindexverteilungsmessvorrichtung, Filmdickenverteilungsmessvorrichtung, Brechungsindexverteilungsmessverfahren und Filmdickenverteilungsmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.12.2024
Dickenverteilungsmessvorrichtung und Dickenverteilungsmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.12.2024
Laserbetriebene Lichtquelle mit Doppeltem Ausgang
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.02.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.12.2024
Laserbetriebene Lichtquelle mit Doppeltem Ausgang
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Status
Angemeldet am 02.02.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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11.12.2024
Photodetektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2024
Räumliche Lichtmodulationsvorrichtung, Verarbeitungsvorrichtung und Positionsschätzungsverfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.12.2024
Photoelektrische Umwandlungsvorrichtung und Photoelektrisches Umwandlungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.08.2021
Erteilt am 04.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.12.2024
Vorrichtung zur Photoelektrischen Umwandlung, Vorrichtung zur Detektion Elektromagnetischer Wellen, Verfahren zur Photoelektrischen Umwandlung und Verfahren zur Detektion Elektromagnetischer Wellen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.08.2021
Erteilt am 04.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.12.2024
Zeitmessvorrichtung, Fluoreszenzlebensdauermessvorrichtung und Zeitmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.12.2024
Probenbeobachtungsvorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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04.12.2024
Festkörperbildgebungselement und Verfahren zur Herstellung eines Festkörperbildgebungselements
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Zusammenfassung
An inspection apparatus 1 includes a stage 10 configured to hold a PIC 100, a PIC controller 20 configured to control an operation of the PIC 100, an LRG dichroic mirror 61 having a transmission characteristic in which transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit and reflect light guided by a waveguide 108 and output from at least one optical output unit 102 on the basis of the transmission characteristic, a first camera 62 configured to capture the light transmitted through the LRG dichroic mirror 61 to output a transmission image, a second camera 63 configured to capture the light reflected by the LRG dichroic mirror 61 to output a reflection image, and a computer 70 configured to execute a first process for deriving wavelength information about light output from the optical output unit 102 on the basis of the transmission image and the reflection image. |
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Zusammenfassung
An inspection apparatus for inspecting a semiconductor apparatus includes a stage configured to hold the semiconductor apparatus, an LRG filter having a transmission characteristic in which transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit or reflect emitted light generated from the semiconductor apparatus on the basis of the transmission characteristic, an infrared camera configured to capture the light transmitted through the LRG filter to output a transmission image and capture light as emitted light that has arrived without passing through the LRG filter to output a total light amount image, and a computer configured to derive wavelength information about the emitted light on the basis of the transmission image and the total light amount image. |
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28.11.2024
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Zusammenfassung
An inspection apparatus 1 includes a stage 10 holding a PIC 100, a PIC controller 20 controlling an operation of the PIC 100, an LRG filter 61 having a transmission characteristic in which a transmittance varies linearly in a predetermined wavelength range and configured to transmit or reflect light that has been guided by a waveguide 108 and output from at least one optical output unit 102 on the basis of the transmission characteristic, a camera 62 capturing light transmitted through the LRG filter 61 to output a transmission image and capturing light, which has arrived without passing through the LRG filter 61, to output a total light quantity image, and a computer 70 performing a first processing to derive wavelength information of the light output from the optical output unit 102 on the basis of the transmission image and the total light quantity image. |
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27.11.2024
Optische Detektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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27.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2024
Verfahren zum Herstellen einer Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
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27.11.2024
Festkörper-Bildaufnahmeelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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20.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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20.11.2024
Szintillatortafel, Strahlungsdetektor, Verfahren zur Herstellung einer Szintillatortafel und Verfahren zur Herstellung eines Strahlungsdetektors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 26.10.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.11.2024
System zur Erzeugung von Hologrammdaten und Verfahren zur Erzeugung von Hologrammdaten
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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13.11.2024
Verfahren zur Herstellung einer Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
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13.11.2024
Halbleiterinspektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.11.2024
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.11.2024
System zur Detektion eines Energiestrahls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 02.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.11.2024
Strahlungsdetektor und Strahlungsdetektoranordnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt Hamamatsu Photonics?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hamamatsu Photonics vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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