Hamamatsu Photonics Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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2.899 gesamt| Patent | |||
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04.09.2025
Inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
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04.09.2025
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
An inspection device 1 includes: a pulse forming unit 3 that generates a pulse train Pb in which a plurality of optical pulses Pb1 and Pb2 having different center wavelengths are arranged at predetermined time intervals; a first adjustment unit 4 that matches a polarization direction of each of the optical pulses Pb1 and Pb2 of the pulse train Pb input to a photonic integrated circuit 5 with an in-plane direction of a substrate 50; a correlation optical system 7 that has polarization dependence in a predetermined polarization direction and generates correlation light Pc of the pulse train Pb output from the photonic integrated circuit 5; an optical detection unit 8 that detects a time waveform of the correlation light Pc; and a determination unit 9 that determines whether the photonic integrated circuit 5 is acceptable or defective based on the time waveform. The optical detection unit 8 detects the time waveform multiple times, and the determination unit 9 determines whether the photonic integrated circuit 5 is acceptable or defective based on a plurality of feature quantities in the time waveform detected multiple times. |
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04.09.2025
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
An inspection device 1 includes: a pulse forming unit that generates a pulse train Pb in which a plurality of optical pulses Pb1 and Pb2 having different center wavelengths are arranged at predetermined time intervals; an optical detection unit 8 that detects a time waveform of the pulse train Pb output from the photonic integrated circuit 5; and an evaluation unit 9 that evaluates the photonic integrated circuit 5 based on the feature quantity of the time waveform. The evaluation unit 9 calculates, based on the feature quantity of the time waveform corresponding to each of the plurality of waveguides having different known lengths, an amount of change in the feature quantity of the time waveform with respect to the length of the waveguide, and calculates a feature quantity of a time waveform of another structure based on the amount of change. |
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04.09.2025
Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
An inspection device 1 includes: a pulse forming unit 3 that generates a pulse train Pb in which a plurality of optical pulses Pb1 and Pb2 having different center wavelengths are arranged at predetermined time intervals; a correlation optical system 7 that has polarization dependence in a predetermined polarization direction and generates correlation light Pc of the pulse train Pb output from a photonic integrated circuit 5; an optical detection unit 8 that detects a time waveform of the correlation light Pc; an evaluation unit 9 that evaluates a waveguide of the photonic integrated circuit 5 based on the feature quantity of the time waveform; and a first adjustment unit 4 that makes the polarization direction of each of the optical pulses Pb1 and Pb2 of the pulse train Pb input to the photonic integrated circuit 5 perpendicular to the in-plane direction of a substrate 50. |
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04.09.2025
Inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
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04.09.2025
Inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.09.2024
Anhängig
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03.09.2025
Photoelektrische Umwandlungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.09.2025
Strahlungsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2018
Erteilt am 03.09.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.09.2025
Optische Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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03.09.2025
Probenbeobachtungsvorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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03.09.2025
Lichtdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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03.09.2025
Photodetektor, Kamera und Bildgebungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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03.09.2025
Inspektionsverfahren für Halbleiterbauelement und Inspektionsvorrichtung für Halbleiterbauelement
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.09.2025
Verfahren zur Herstellung einer Optischen Vorrichtung
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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21.08.2025
Method for manufacturing joined body
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2024
Anhängig
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21.08.2025
Method of verifying operation of fluorescence observation device, and pseudofluorescent phantom
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.10.2024
Anhängig
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21.08.2025
Method for manufacturing joined body
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2024
Anhängig
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20.08.2025
Vorrichtung zur Untersuchung des Lymphsystems und Verfahren zur Untersuchung des Lymphsystems
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.08.2025
Filmdicke-Messvorrichtung und Filmdicke-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.08.2025
Filmdicke-Messvorrichtung und Filmdicke-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.10.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.08.2025
Filmdicke-Messvorrichtung und Filmdicke-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.09.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.08.2025
Untersuchungsvorrichtung für Lymphatische Systeme
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.08.2025
Untersuchungsvorrichtung für Lymphatische Systeme
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.08.2025
Lichterkennungsvorrichtung und Verfahren zur Steuerung der Lichterkennungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.03.2022
Erteilt am 20.08.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.08.2025
Lymphsysteminspektionsvorrichtung
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.08.2025
Laser beam machining apparatus and laser beam machining method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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14.08.2025
Laser processing device and laser processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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14.08.2025
Laser processing device and laser processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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14.08.2025
Laser beam machining apparatus and laser beam machining method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2024
Anhängig
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13.08.2025
Spiegelvorrichtung
Optik & Fototechnik
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13.08.2025
Halbleiter-Fotodetektorelement mit Rückflächeneinfall
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.08.2025
Probenträger, Ionisierungsverfahren und Massenspektrometrieverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.04.2021
Erteilt am 06.08.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.08.2025
Laservorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.07.2021
Erteilt am 06.08.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.08.2025
Strahlungsdetektor mit einer Szintillatorplatte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 03.07.2018
Erteilt am 06.08.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.08.2025
Laserbearbeitungsvorrichtung und Laserbearbeitungsverfahren
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.02.2021
Erteilt am 06.08.2025
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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06.08.2025
Bilderfassungsvorrichtung, Detektionsvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.08.2025
Bilderfassungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Bilderfassungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.07.2025
Spiegeleinheit
Optik & Fototechnik
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30.07.2025
Filmdicke-Messvorrichtung und Filmdicke-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.07.2025
Imaging device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 18.10.2024
Anhängig
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Wer vertritt Hamamatsu Photonics?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hamamatsu Photonics vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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