Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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4.287 gesamt| Patent | |||
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04.12.2003
Defect classification device generation method and automatic defect classification method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.05.2003
Anhängig
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27.11.2003
Sample dimension measuring method and scanning electron microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.05.2003
Anhängig
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25.09.2003
Defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 17.03.2003
Anhängig
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03.09.2003
Elektronenstrahl-Vorrichtung und Methode zur Verhinderung von Hochspannungs-Überschlägen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.11.2002
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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07.08.2003
Electro−spray ionization mass spectrometer and method therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.01.2002
Anhängig
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07.08.2003
Electrospray ionization mass spectrometric device and system therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.02.2002
Anhängig
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08.05.2003
Liquid Chromatographic Mass Spectrograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.10.2002
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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