Rigaku Patente
🇯🇵 Japan
Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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281 gesamt| Patent | |||
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12.03.2025
Probenhaltereinheit für Vorrichtungen zur Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 12.03.2025
Vertretung
Zusammenfassung
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Measurement can be performed even when spaces divided by a partition film have a pressure difference therebetween, and the partition film is easily extended without causing warping and wrinkles. Provided is an X-ray fluorescence spectrometer, which includes: an irradiation chamber, an inside of which is vacuum; and a sample chamber, an inside of which has an atmospheric pressure, the X-ray fluorescence spectrometer including: a window frame holding member, which forms a part of a partition wall between the irradiation chamber and the sample chamber, and includes an opening for allowing the X-rays to pass therethrough; and a window frame member, which is configured to hold a partition film, and is to be arranged in the opening of the window frame holding member, the partition film being formed from a material that transmits the X-rays, and being a part of the partition wall. The window frame member includes: an inner film holding member having an annular shape, the inner film holding member including a peripheral wall extending from a proximal end to be arranged on the sample chamber side toward a distal end to be arranged on the irradiation chamber side, the distal end having an opening to be closed by a part of the partition film; and an outer film holding member having an annular shape, the outer film holding member being configured to be inserted from the distal end of the inner film holding member to be mounted to the proximal end of the inner film holding member so as to fix a surrounding of the part of the partition film to the inner film holding member. |
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
To prevent an intensity of fluorescent X-rays to be detected from being reduced, to achieve high analytical accuracy and short measurement time, provided is an X-ray fluorescence spectrometer, which includes: a sample chamber in which a sample is to be arranged; and an irradiation chamber divided from the sample chamber by a partition wall, the X-ray fluorescence spectrometer including: an X-ray source arranged in the irradiation chamber, the X-ray source being configured to obliquely apply X-rays toward an opening formed in a division wall between the sample chamber and the irradiation chamber; a window frame member configured to hold a partition film which is formed from a material that transmits the X-rays and forms a part of the partition wall, the window frame member being arranged within the opening formed in the division wall; and a film supporting member having an elongated hole for allowing the X-rays to pass therethrough, the film supporting member being arranged adjacent to the irradiation chamber side of the partition film to support the partition film from the irradiation chamber side. In plan view as viewed from the sample chamber side toward the irradiation chamber side, the film supporting member is arranged so that the elongated hole is parallel to an optical axis of the X-rays. |
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysevorrichtung, Informationsspeichermedium und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
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06.03.2025
Fluoreszenz-Röntgenanalysevorrichtung, Informationsspeichermedium und Programm
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Status
Angemeldet am 30.08.2024
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Measurement can be performed in a state where a sample chamber is filled with air, and a partition film and a component arranged in an irradiation chamber are prevented from being damaged. An X-ray fluorescence spectrometer includes: a sample chamber in which a sample is to be arranged; an irradiation chamber divided from the sample chamber by a partition wall partially including a partition film which transmits X-rays, the irradiation chamber having arranged therein an X-ray source configured to emit X-rays to the sample via the partition film; and an information processing device. The information processing device includes: an irradiation time acquisition unit configured to acquire an irradiation time for which the partition film is irradiated with the X-rays; and a control unit configured to perform protection control of protecting the partition film from irradiation with the X-rays based on the irradiation time acquired by the irradiation time acquisition unit. |
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05.03.2025
Probenokklusionsvorrichtung für Einkristalline Röntgenstrukturanalyse und Okklusionsverfahren
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 05.03.2025
Vertretung
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26.02.2025
Struktur zur Druckbeaufschlagungsanalyse, Röntgendiffraktionsvorrichtung und Druckbeaufschlagungsanalysesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.09.2021
Erteilt am 26.02.2025
Vertretung
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26.02.2025
Röntgenfluoreszenzspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.09.2021
Erteilt am 26.02.2025
Vertretung
Dr. Gassner & Partner mbB · Erlangen
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19.02.2025
Tränkmaschine und Tränkverfahren für eine Probe zur Einkristall-Röntgenstrukturanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 19.02.2025
Vertretung
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19.02.2025
Vorrichtung zur Einkristall-Röntgenstrukturanalyse und Probenhalterbefestigungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 19.02.2025
Vertretung
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06.02.2025
Automatized alignment of x-ray optics and x-ray beams
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.07.2024
Anhängig
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05.02.2025
Vorrichtung, Verfahren und Programm zur Schätzung der Mitteverschiebungsmenge
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2021
Erteilt am 05.02.2025
Vertretung
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05.02.2025
Mikrokanalvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2023
Anhängig
Vertretung
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29.01.2025
Automatisierte Ausrichtung von Röntgenoptik und Röntgenstrahlen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2023
Anhängig
Vertretung
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22.01.2025
Röntgenfluoreszenzspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.09.2021
Erteilt am 22.01.2025
Vertretung
Dr. Gassner & Partner mbB · Erlangen
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22.01.2025
Steuerungsvorrichtung, -System, -Verfahren und -Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2023
Anhängig
Vertretung
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16.01.2025
Röntgenfluoreszenzanalysevorrichtung, Wasserleckverwaltungsverfahren für Röntgenfluoreszenzanalysevorrichtung, Informationsspeichermedium und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2024
Anhängig
Vertretung
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15.01.2025
Vorrichtung zur Einkristall-Röntgenstrukturanalyse und Probenhalter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 15.01.2025
Vertretung
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01.01.2025
System zur Einkristallröntgenstrukturanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.11.2019
Erteilt am 01.01.2025
Vertretung
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21.11.2024
Strukturanalysevorrichtung, Strukturanalyseverfahren und Strukturanalyseprogramm
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Zusammenfassung
Summary[Problem]To provide a configuration capable of further supporting measurement in electron diffraction.[Solution]According to one aspect of the present invention, a structural analysis device using electron diffraction is provided. This structural analysis device is provided with at least one processor capable of executing a program so as to perform the following steps. In a display step, an image including a plurality of samples is displayed from transmitted electronic data, wherein the transmitted electronic data is transmitted electron data obtained by irradiating a region including the plurality of samples with an electron beam. In a calculation step, transmittance of each of the plurality of samples is calculated on the basis of the transmitted electronic data. In a selection step, at least one sample satisfying a predetermined condition is selected from within the image, wherein the predetermined condition is a condition related to the transmittance. |
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21.11.2024
Strukturanalysevorrichtung, Strukturanalyseverfahren und Strukturanalyseprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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06.11.2024
Struktur zur Verbindungspülung
Organische Chemie
Pharma & Biotechnologie
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06.11.2024
Mehrkomponentenstruktur zur Erfassung einer Verbindung
Organische Chemie
Pharma & Biotechnologie
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24.10.2024
X-ray generator, x-ray analyzer, control method for x-ray generator, and control system for x-ray generator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2023
Anhängig
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16.10.2024
Verfahren und Vorrichtung zur Analyse des Diffraktionsmusters einer Mischung und Informationsspeichermedium dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.11.2021
Erteilt am 16.10.2024
Vertretung
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09.10.2024
Röntgenfluoreszenzspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.10.2024
Sample cell and fluorescent x-ray analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.03.2024
Anhängig
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03.10.2024
Sample pouch cell and fluorescent x-ray analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2024
Anhängig
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02.10.2024
Kristallstrukturanalyseverfahren, Kristallstrukturanalysevorrichtung und Kristallstrukturanalyseprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.10.2024
Verarbeitungsvorrichtung, System, Röntgenmessverfahren und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.10.2020
Erteilt am 02.10.2024
Vertretung
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25.09.2024
Quantitatives Analyseverfahren, Quantitatives Analyseprogramm und Fluoreszenz-Röntgenanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2020
Erteilt am 25.09.2024
Vertretung
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04.09.2024
Programm zur Spitzenwertidentifizierungsanalyse und Vorrichtung zur Fluoreszenzröntgenanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.07.2022
Anhängig
Vertretung
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04.09.2024
Unterscheidungsverfahren, -Vorrichtung und -Programm für Graphen-Vorläufermaterialien
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.02.2019
Erteilt am 04.09.2024
Vertretung
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04.09.2024
Quantitatives Analyseverfahren, Quantitatives Analyseprogramm und Fluoreszenz-Röntgenanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2020
Erteilt am 04.09.2024
Vertretung
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28.08.2024
Strahlungsdetektor, Strahlungsmessvorrichtung und Verfahren zur Einstellung des Strahlungsdetektors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.02.2024
Anhängig
Vertretung
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28.08.2024
Strahlungsdetektor, Auslösersignalgenerator und Strahlungsanalysesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 22.02.2024
Anhängig
Vertretung
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14.08.2024
Röntgenfluoreszenzanalysegerät und Steuerverfahren für Röntgenfluoreszenzanalysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Angemeldet am 24.03.2021
Erteilt am 14.08.2024
Vertretung
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17.07.2024
Probenhalteranordnung zur Strukturaufklärung mit Porösen Rahmen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt Rigaku?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Rigaku vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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