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Teradyne Patente

🇺🇸 USA

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

462 gesamt
Patent
31.10.2007
Pin-Elektronik mit Hochspannungsfunktionalität
EP1849018
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.10.2007
Testsystem für Chipkarten, Identifikationsvorrichtungen und Dergleichen
EP1311867
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
13.09.2007
V/i source and test system incorporating the same
WO2007102856
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.09.2007
Instrument mit einer Schnittstelle zur Synchronisation in Automatischen Testgeräten
EP1828792
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.09.2007
Automatisches Prüfsystem mit Synchronisierten Instrumenten
EP1828793
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.09.2007
Verfahren und System zum Prüfen von Halbleitervorrichtungen
EP1828789
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.09.2007
Verwendung einer Parametrischen Messeinheit zum Testen eines Wandlers
EP1829218
Elektronik & Schaltungstechnik
29.08.2007
Verwendung von Parametrischen Messeinheiten als Stromquelle für eine zu Prüfende Vorrichtung
EP1825280
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.08.2007
Verwendung einer Parametrischen Messeinheit zum Abtasten der Spannung einer zu Prüfenden Vorrichtung
EP1825283
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.08.2007
Elektrooptisches Stecker Modul
EP1315991
Optik & Fototechnik
22.08.2007
Verbesserte Kommunikationsschnittstelle für Fahrzeuge
EP1569417
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
16.08.2007
Multi-stream interface for parallel test processing
WO2007092271
Software & Datenverarbeitung
15.08.2007
Schnittstellenvorrichtung für einen Halbleiterbauelemente-Tester und Testverfahren dafür
EP1817597
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.08.2007
Verfahren und Vorrichtungen zur Steuerung Variabler Verzögerungen in Elektronischen Schaltkreisen
EP1815261
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.07.2007
Automatic testing equipment instrument card and probe cabling system and apparatus
WO2007081421
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.07.2007
Verfahren zur Bewertung der Dsl-Fähigkeit von Telefonleitungen
EP1808001
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
12.07.2007
Test Equipment Positional Control Manipulator
WO2007078721
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.07.2007
Method and apparatus for 0/180 degree phase detector
WO2007078693
Elektronik & Schaltungstechnik
05.07.2007
Digitizer with enhanced accuracy
WO2007075904
Elektronik & Schaltungstechnik
05.07.2007
Automatic calculation of an offset factor cancelling the influence of a telephone line test system
WO2007076268
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
20.06.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Jitter-Messung
EP1797440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.06.2007
Calibration Circuitry
WO2007067378
13.06.2007
Leiterplattenbaugruppe mit Verringerter Kapazitiver Kopplung
EP1795057
Elektronik & Schaltungstechnik
13.06.2007
Flacher Faseroptischer Stecker
EP1421426
Optik & Fototechnik
07.06.2007
Analog-To-Digital Converter
WO2007064604
Elektronik & Schaltungstechnik
24.05.2007
Locally In-Order Strobing
WO2007059411
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.05.2007
Determining frequency components of jitter
WO2007059409
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.05.2007
Dual sine-wave time stamp method and apparatus
WO2007053413
10.05.2007
Method and apparatus for adjustment of synchronous clock signals
WO2007053414
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
09.05.2007
Komparator-Rückkopplungs-Spitzendetektor
EP1782082
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.05.2007
Method and apparatus for automatic test equipment
WO2007050865
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.05.2007
Wärmetausch-Vorrichtung mit Parallelem Fluss
EP1779427
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.05.2007
Mikrowärmerohr mit Keilförmigen Kapillaren
EP1779053
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.05.2007
Zeitmessung Mithilfe von Phasenverschobenen Periodischen Wellenformen
EP1779217
Software & Datenverarbeitung
18.04.2007
Kostengünstige Konfiguration zur Überwachung und Steuerung von einer Parametrischen Messeinheit in einem Automatischen Testgerät
EP1157279
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.04.2007
Low-Spur Low-Distortion Digital-To-Analog Converter
WO2007040981
Elektronik & Schaltungstechnik
11.04.2007
Digital-Analog-Wandler mit Sigma-Delta Schleife und Rückkopplungs-Daw-Model
EP1354410
Elektronik & Schaltungstechnik
11.04.2007
Gerät und Verfahren zur Eichung und Validierung von Hochleistungs-Stromversorgungen für Testgeräte
EP1440328
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.04.2007
Data Capture in Automatic Test Equipment
WO2007038479
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.02.2007
Verbindungseinrichtung mit Verbesserten Hoch-Frequenz Eigenschaften
EP1606859
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Wer vertritt Teradyne?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Teradyne vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

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Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
255
Elektronik & Schaltungstechnik
76
Software & Datenverarbeitung
57
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
56
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
52
Akustik, Musik & Datenspeicherung
50
Optik & Fototechnik
25
Steuerungs- & Regelungstechnik
15
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
11
Verpackungs- & Fördertechnik
4
Verfahrens- & Trenntechnik
4
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
3

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