Agilent Technologies Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Analysegeräten, Labortechnik und Diagnostiklösungen, 1999 als Ausgründung von Hewlett Packard entstanden. Schwerpunkte sind Chromatographie, Massenspektrometrie und Life-Science-Instrumente.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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2.310 gesamt| Patent | |||
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17.05.2006
Diagnostisches Markierungsmittel und Pharmakologische Ziele bei Herzinfarkt und deren Reagenten und Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.05.2006
Thermoplastische Vorrichtung zur Arrayhybridisierung und Verfahren zu deren Herstellung
Verfahrens- & Trenntechnik
Optik & Fototechnik
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17.05.2006
Resonanztunnel-Nanostruktur mit Gatterspannungsquelle
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.05.2006
Wellenlängenabgestimmte Intensitätsmessung mit einem Oberflächenplasmonenresonanz-Sensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.05.2006
Optisches Multiplex-Erfassungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.05.2006
Vorrichtung und Verfahren zur Erleichterung von Molekülwechselwirkungsmessungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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11.05.2006
Optical navigation system for vehicles
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Anhängig
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11.05.2006
Apparatus for non-contact testing of microcircuits
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.10.2005
Anhängig
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10.05.2006
Universelle Prüfhalterung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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10.05.2006
Ausrichtung einer Faseranordnung mit Hilfe von Justagemarkierungen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.09.2002
Erteilt am 10.05.2006
Vertretung
Schoppe, Fritz · Pullach
Schoppe, Fritz, Dipl.-Ing · München
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10.05.2006
System mit nanoskaligen Leiter und Öffnung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.05.2006
Digitale Datensignalprüfung unter Verwendung eines Beliebigen Prüfsignals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 06.08.2003
Anhängig
Vertretung
Barth, Daniel Mathias · Waldbronn
Neuerburg, Gerhard · Böblingen
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10.05.2006
Akustisch gekoppelter Dünnschicht-Transformator mit zwei piezoelektrischen Elementen, welche entgegengesetzte C-Axen Orientierung besitzten
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 01.07.2004
Erteilt am 10.05.2006
Vertretung
Schoppe, Fritz · Pullach
Liesegang, Roland · München
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10.05.2006
Verfahren und System zur Mehrfach-Medikamenten-Behandlungs-Discovery
Software & Datenverarbeitung
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10.05.2006
Photlithographieverfahren
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.02.2000
Erteilt am 10.05.2006
Vertretung
Schoppe, Fritz · Pullach
Schoppe, Fritz, Dipl.-Ing · München
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04.05.2006
Arbitrary Pulse Generation
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2004
Anhängig
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03.05.2006
Photoleitfähiger Schalter mit verbesserter Halbleiterstruktur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.05.2000
Erteilt am 03.05.2006
Vertretung
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03.05.2006
Teststruktur zur gleichzeitigen Charakterisierung von zwei Ports einer optischen Komponente mittels interferometerbasierender optischer Netzwerkanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 10.10.2002
Erteilt am 03.05.2006
Vertretung
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03.05.2006
Monolithische Mehrwellenlängen Anordnung von Oberflächenemittierenden Lasern mit vertikalem Resonator und Herstellungsverfahren derselben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.02.2003
Erteilt am 03.05.2006
Vertretung
Schoppe, Fritz · Pullach
Liesegang, Roland · München
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03.05.2006
Verfahren zur Verhinderung des Signalabschneidens bei Molekülarray-Scannern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.05.2006
System und Verfahren zur Ermittlung der Bitfehlerrate eines digitalen Signals
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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03.05.2006
Verfahren zum Vergleichen eines Wertes mit einem Schwellenwert bei Unsicherheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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27.04.2006
System and method for planarizing a substrate surface having a non-planar surface topography
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Anhängig
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27.04.2006
Method and structure for deep well structures for long wavelength active regions
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Anhängig
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27.04.2006
Reducing Metastable-Induced Errors From A Frequency Detector That Is Used in A Phase-Locked Loop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Anhängig
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27.04.2006
Phase Locked Time Interval Analyzer
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.09.2005
Anhängig
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27.04.2006
Fluid processing devices with multiple sealing mechanisms and automated methods of use thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.10.2005
Anhängig
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26.04.2006
Verarbeitungsvorrichtung und Verarbeitungsverfahren zur Analyse von Datagrammen
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 03.10.2005
Anhängig
Vertretung
Kurz, Peter · Böblingen
Coker, David Graeme · Wokingham
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26.04.2006
Verfahren zum Detektieren von defekten Bildpunkten in einem digitalen Bildsensor
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 15.05.2003
Erteilt am 26.04.2006
Vertretung
Liesegang, Roland · München
Liesegang, Roland · München
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26.04.2006
Hermetisches Gehäuse für ein optisches oder optoelektronisches Modul
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2003
Erteilt am 26.04.2006
Vertretung
Schoppe, Fritz · Pullach
Coker, David Graeme · Wokingham
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26.04.2006
System und Verfahren zur Entdeckung von border gateway protocol (bgp) Routertopologie
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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26.04.2006
Verbessertes Substratmaterial für Integrierte Schaltungen und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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26.04.2006
Dichtungsvorrichtung
Verpackungs- & Fördertechnik
Verfahrens- & Trenntechnik
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20.04.2006
Wavelength Division Multiplexer Architecture
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 31.08.2005
Anhängig
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19.04.2006
Reflektometer mit Nichtreziproken Optischen Bauelemente
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 15.06.2000
Erteilt am 19.04.2006
Vertretung
Barth, Daniel Mathias · Waldbronn
Barth, Daniel · Böblingen
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19.04.2006
Vorrichtung und Verfahren zur Bioanalyse mittels Sondenarrays
Verfahrens- & Trenntechnik
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19.04.2006
On-Screen-Werkzeuge zur Augenmustermessung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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19.04.2006
Integrierte Schaltung mit Bitfehlertestfähigkeit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2003
Anhängig
Vertretung
Barth, Daniel Mathias · Waldbronn
Neuerburg, Gerhard · Böblingen
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19.04.2006
Ionenquellenfrequenzrückkopplungsgerät und Methode
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.12.2004
Anhängig
Vertretung
Kurz, Peter · Böblingen
Schoppe, Fritz, Dipl.-Ing · München
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19.04.2006
Zusammenhängende Arraysubstrate die Kontrollproben enthalten
Pharma & Biotechnologie
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Wer vertritt Agilent Technologies?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Agilent Technologies vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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