Carl Zeiss Jena Patente

🇩🇪 Deutschland

Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

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Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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388 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
17.08.2017	17.08.2017 Mehrwege-Prisma WO2017137476 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.02.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.04.2017	06.04.2017 Vorrichtung zur Datenprojektion WO2017055149 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.09.2016 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.04.2016	13.04.2016 Fahrzeug mit Anordnung zur Spektroskopischen Bestimmung der Bestandteile und Konzentrationen Pumpfähiger Organischer Verbindungen und Verfahren EP1721139 Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.02.2005 Erteilt am 13.04.2016 Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.01.2016	27.01.2016 Laser-Scanning-Mikroskop EP1944600 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.07.2006 Erteilt am 27.01.2016 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.08.2015	26.08.2015 Beobachtungsgerät mit separater Bedienungseinheit EP1533643 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.11.2004 Erteilt am 26.08.2015 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.02.2015	18.02.2015 Verfahren zur Ansteuerung eines Wechselsmagazin für Mikroskope EP1322982 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2001 Erteilt am 18.02.2015 Vertretung Boecker, Joachim · Frankfurt Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Optische Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht EP1353209 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2000 Erteilt am 26.11.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Verfahren zur Erfassung des Wellenlängenabhängigen Verhaltens einer Beleuchteten Probe EP1307726 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2001 Erteilt am 25.06.2014 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung EP1617253 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 25.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung EP1617252 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 25.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2014	04.06.2014 Mikroskop mit erhöhter Auflösung EP1617259 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 04.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.03.2014	05.03.2014 Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung EP1617260 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 05.03.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.07.2013	10.07.2013 Verfahren zur Beschleunigung der Verstellbewegung in einem Positioniersystem mit Schrittmotoren EP1171949 Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2001 Erteilt am 10.07.2013 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.06.2013	19.06.2013 Lichtrastermikroskop EP1944642 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2013	08.05.2013 Farblängsfehler verringerndes Optiksystem EP1892551 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.09.2005 Erteilt am 08.05.2013 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2012	31.10.2012 Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Erkennung optischer Bauteile EP1650589 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.09.2005 Erteilt am 31.10.2012 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.09.2012	26.09.2012 Verfahren zur Scanneransteuerung in mindestens einer Scanachse in einem Laser-Scanning-Mikroskop EP1695540 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2004 Erteilt am 26.09.2012 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.05.2012	09.05.2012 Mikroskopobjektiv mit axial verstellbaren Korrekturfassungen EP1548483 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2004 Erteilt am 09.05.2012 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.09.2011	28.09.2011 Mikroskopobjektiv mit axial verstellbaren Korrekturfassungen EP1548482 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.12.2004 Erteilt am 28.09.2011 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.05.2011	25.05.2011 Lichtrastermikroskop und Verwendung EP1617263 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 25.05.2011 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.03.2011	30.03.2011 Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben EP1504300 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.05.2003 Erteilt am 30.03.2011 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.03.2011	02.03.2011 Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der Fokusposition bei der Abbildung einer Probe EP1618426 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.04.2004 Erteilt am 02.03.2011 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.12.2010	29.12.2010 Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe EP1248132 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.03.2002 Erteilt am 29.12.2010 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.12.2010	08.12.2010 Optische Anordnung zur Beobachtung einer Probe oder eines Objekts EP1372012 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.04.2003 Erteilt am 08.12.2010 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.10.2010	20.10.2010 Scannende Anordnung, Vorzugsweise zur Erfassung von Fluoreszenzlicht EP1181611 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2000 Erteilt am 20.10.2010 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.06.2010	02.06.2010 Kondensoranordnung für Hell- oder Dunkelfeldbeleuchtung für Lichtmikroskope EP1621911 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.07.2005 Erteilt am 02.06.2010 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.02.2010	17.02.2010 Anordnung zur Verstellung von Optischen Komponenten Und/oder Linsengruppen, in Variabbildungssystemen EP1963902 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.12.2006 Erteilt am 17.02.2010 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.02.2010	17.02.2010 Einstellbares Pinhole, insbesondere für ein Laser-Scanning-Mikroskop EP1625359 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.05.2004 Erteilt am 17.02.2010 Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.01.2010	13.01.2010 Durchlichtbeleuchtung für Stereomikroskope EP1643286 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.09.2005 Erteilt am 13.01.2010 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.01.2010	06.01.2010 Verfahren zur Synchronsteuerung mehrerer Schrittmotoren EP1169774 Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2001 Erteilt am 06.01.2010 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.12.2009	30.12.2009 Optischer Sensor zur Messung des Abstands und der Neigung einer Fläche EP1198694 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2001 Erteilt am 30.12.2009 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2009	30.09.2009 Verbesserung der Spektralen Und/oder Räumlichen Auflösung in einem Laser-Scanning Mikroskop EP1264169 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2001 Erteilt am 30.09.2009 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.09.2009	09.09.2009 Einrichtung und Verfahren zur reproduzierbaren Einstellung der Pinholeöffnung und Pinholelage in Laserscanmikroskopen EP2098892 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.04.2006 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.08.2009	05.08.2009 Mikroskop mit einem afokalen Zoomsystem EP1544653 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.12.2004 Erteilt am 05.08.2009 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.05.2009	13.05.2009 Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Laser-Scanning-Mikroskopes EP1496385 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2004 Erteilt am 13.05.2009 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.02.2009	04.02.2009 Anordnung zur Visualisierung von Informationen in einem Kraftfahrzeug EP1544660 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.12.2003 Erteilt am 04.02.2009 Vertretung Kunz, Herbert · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.01.2009	28.01.2009 Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und / oder Detektion EP1617255 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 28.01.2009 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.12.2008	31.12.2008 Verfahren zur Ermittlung von Abständen am Vorderen Augenabschnitt EP1303210 Medizintechnik & Gesundheit	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.02.2002 Erteilt am 31.12.2008 Vertretung Breit, Ulrich · München Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.10.2008	08.10.2008 Verfahren zur Verbesserung der Tiefendiskriminierung Optisch Abbildender Systeme EP1556728 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.10.2003 Erteilt am 08.10.2008 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2008	01.10.2008 Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanning-Mikroskops, wobei Bilder einer Probe verglichen und aus dem Ergebnis Steuersignale abgeleitet werden EP1496387 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.07.2004 Erteilt am 01.10.2008 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen