Carl Zeiss Jena Logo

Carl Zeiss Jena Patente

🇩🇪 Deutschland

Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

388
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
20
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

388 gesamt
Patent
02.07.2008
Laser-scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik
Optik & Fototechnik
25.06.2008
Einstellbares Pinhole mit zwei verschiebbare, teilweise beschichteten, transparenten Trägern
Optik & Fototechnik
11.06.2008
Endlagenschaltung für Stereomikroskope mit motorisiertem Fokussiertrieb
Optik & Fototechnik
23.04.2008
Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
23.04.2008
Verfahren zur Detektion von Fluoreszenzlicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.04.2008
Optisches System für eine Funduskamera
Medizintechnik & Gesundheit Optik & Fototechnik
12.03.2008
Verfahren zur Optischen Detektion einer Beleuchteten Probe in mehreren Detektionskanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
30.01.2008
Anordnung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung Optisch Abbildender Systeme
Optik & Fototechnik
16.01.2008
Einrichtung und Verfahren zur Reproduzierbaren Einstellung der Pinholeöffnung und Pinholelage in Laserscanmikroskopen
Optik & Fototechnik
16.01.2008
Kompakt-Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.01.2008
Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
Optik & Fototechnik
09.01.2008
Mikroskop mit Farblängsfehler verringernden Kollimator
Optik & Fototechnik
02.01.2008
Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
26.12.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Polarisationseigenschaften von Licht, das durch ein Material Emittiert, Reflektiert oder Durchgelassen Wird, durch Verwendung eines Laser-Scan-Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
28.11.2007
Optisches Beobachtungsgerät mit einer Einrichtung zum Einbringen Visuell Wahrnehmbarer Informationen in den Beobachtungsstrahlengang
Optik & Fototechnik
21.11.2007
Einstellbares Pinhole
Optik & Fototechnik
07.09.2007
Multispektrale Beleuchtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
05.09.2007
Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion in einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
Optik & Fototechnik
29.08.2007
Verfahren zur Identifikation von Fluoreszierenden, Lumineszierenden Und/oder Absorbierenden Substanzen auf Und/oder in Probenträgern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.06.2007
Mikroskop mit einem Identifikationssystem für optische Filter
Optik & Fototechnik
02.05.2007
Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
26.04.2007
Optisches Abbildungssytem, insbesondere für Mikroskope
Optik & Fototechnik
19.04.2007
Automatisches Mikroskop mit einem in der Aperturblendenebene eines Kondensors Angeordneten Beleuchtungsfeld
Optik & Fototechnik
18.04.2007
Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquelle und seine Verwendung
Optik & Fototechnik
21.03.2007
Einstellbares Pinhole
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
15.03.2007
Einrichtung zum Auswechseln Optischer Elemente in Strahlengängen
Optik & Fototechnik
14.03.2007
Ultraempfindlicher Photodetektor mit Integriertem Pinhole für Konfokale Mikroskope und Verfahren zur Detektion Optisches Signal
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.02.2007
Varioobjektiv
Optik & Fototechnik
08.02.2007
Haltemodul, das eine Festkörperimmersionslinse Trägt
Optik & Fototechnik
24.01.2007
Anordnung zum Manuellen Einstellen einer Fokusposition bei Mikroskopen
Optik & Fototechnik
13.12.2006
Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
29.11.2006
Gitterspektrometersystem und Verfahren zur Messwerterfassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.11.2006
Multispektrale Beleuchtungseinheit
Optik & Fototechnik Elektronik & Schaltungstechnik
15.11.2006
Mikroskop, insbesondere Laserscanningmikroskop mit adaptiver optischer Einrichtung
Optik & Fototechnik
20.09.2006
Verfahren zur Detektion des von einer Probe Kommenden Lichtes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
13.09.2006
System zur Berührungslosen Vermessung der Optischen Abbildungsqualität eines Auges
Medizintechnik & Gesundheit
06.09.2006
Punktscannendes Laser-Scanning-Mikroskop sowie Verfahren zur Einstellung eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
06.09.2006
Anordnung zur Optischen Auswertung eines Gegenstandsarrays
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.09.2006
Optische Anordnung und Verfahren zur Erzeugung Stereoskopischer Bilder
Optik & Fototechnik
30.08.2006
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
Optik & Fototechnik

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen