Carl Zeiss Jena Patente
🇩🇪 Deutschland
Carl Zeiss Jena GmbH ist eine Gesellschaft der Zeiss-Gruppe mit Sitz im thüringischen Jena, dem historischen Kernstandort des Optikkonzerns. Das Patentportfolio ist stark auf Optik und Fototechnik konzentriert, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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388 gesamt| Patent | |||
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02.07.2008
Laser-scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik
Optik & Fototechnik
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25.06.2008
Einstellbares Pinhole mit zwei verschiebbare, teilweise beschichteten, transparenten Trägern
Optik & Fototechnik
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11.06.2008
Endlagenschaltung für Stereomikroskope mit motorisiertem Fokussiertrieb
Optik & Fototechnik
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23.04.2008
Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2003
Anhängig
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23.04.2008
Verfahren zur Detektion von Fluoreszenzlicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.04.2008
Optisches System für eine Funduskamera
Medizintechnik & Gesundheit
Optik & Fototechnik
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12.03.2008
Verfahren zur Optischen Detektion einer Beleuchteten Probe in mehreren Detektionskanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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30.01.2008
Anordnung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung Optisch Abbildender Systeme
Optik & Fototechnik
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16.01.2008
Einrichtung und Verfahren zur Reproduzierbaren Einstellung der Pinholeöffnung und Pinholelage in Laserscanmikroskopen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.04.2006
Anhängig
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16.01.2008
Kompakt-Spektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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16.01.2008
Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
Optik & Fototechnik
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09.01.2008
Mikroskop mit Farblängsfehler verringernden Kollimator
Optik & Fototechnik
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02.01.2008
Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2003
Erteilt am 02.01.2008
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26.12.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Polarisationseigenschaften von Licht, das durch ein Material Emittiert, Reflektiert oder Durchgelassen Wird, durch Verwendung eines Laser-Scan-Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.11.2001
Erteilt am 26.12.2007
Vertretung
Mak, Andras · Budapest
Altenburg, Udo · München
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28.11.2007
Optisches Beobachtungsgerät mit einer Einrichtung zum Einbringen Visuell Wahrnehmbarer Informationen in den Beobachtungsstrahlengang
Optik & Fototechnik
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21.11.2007
Einstellbares Pinhole
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.09.2003
Erteilt am 21.11.2007
Vertretung
Breit, Ulrich · München
Geyer, Fehners & Partner · München
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07.09.2007
Multispektrale Beleuchtungsvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.01.2007
Anhängig
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05.09.2007
Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und/oder Detektion in einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2004
Erteilt am 05.09.2007
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29.08.2007
Verfahren zur Identifikation von Fluoreszierenden, Lumineszierenden Und/oder Absorbierenden Substanzen auf Und/oder in Probenträgern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2002
Erteilt am 29.08.2007
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27.06.2007
Mikroskop mit einem Identifikationssystem für optische Filter
Optik & Fototechnik
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02.05.2007
Anordnung zur Erfassung der Beleuchtungsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.07.2004
Anhängig
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26.04.2007
Optisches Abbildungssytem, insbesondere für Mikroskope
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.10.2006
Anhängig
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19.04.2007
Automatisches Mikroskop mit einem in der Aperturblendenebene eines Kondensors Angeordneten Beleuchtungsfeld
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.09.2006
Anhängig
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18.04.2007
Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquelle und seine Verwendung
Optik & Fototechnik
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21.03.2007
Einstellbares Pinhole
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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15.03.2007
Einrichtung zum Auswechseln Optischer Elemente in Strahlengängen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.08.2006
Anhängig
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14.03.2007
Ultraempfindlicher Photodetektor mit Integriertem Pinhole für Konfokale Mikroskope und Verfahren zur Detektion Optisches Signal
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.04.2001
Erteilt am 14.03.2007
Vertretung
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28.02.2007
Varioobjektiv
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2000
Erteilt am 28.02.2007
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08.02.2007
Haltemodul, das eine Festkörperimmersionslinse Trägt
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 07.07.2006
Anhängig
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24.01.2007
Anordnung zum Manuellen Einstellen einer Fokusposition bei Mikroskopen
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.12.2001
Erteilt am 24.01.2007
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13.12.2006
Verfahren zur bildlichen Erfassung von Objekten mittels eines Lichtrastermikroskopes mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2004
Erteilt am 13.12.2006
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29.11.2006
Gitterspektrometersystem und Verfahren zur Messwerterfassung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2006
Anhängig
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23.11.2006
Multispektrale Beleuchtungseinheit
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 12.05.2006
Anhängig
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15.11.2006
Mikroskop, insbesondere Laserscanningmikroskop mit adaptiver optischer Einrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.04.2003
Erteilt am 15.11.2006
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20.09.2006
Verfahren zur Detektion des von einer Probe Kommenden Lichtes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.09.2006
System zur Berührungslosen Vermessung der Optischen Abbildungsqualität eines Auges
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 31.08.2001
Erteilt am 13.09.2006
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06.09.2006
Punktscannendes Laser-Scanning-Mikroskop sowie Verfahren zur Einstellung eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2006
Anhängig
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06.09.2006
Anordnung zur Optischen Auswertung eines Gegenstandsarrays
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.04.2000
Erteilt am 06.09.2006
Vertretung
Breit, Ulrich · München
Geyer, Fehners & Partner · München
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06.09.2006
Optische Anordnung und Verfahren zur Erzeugung Stereoskopischer Bilder
Optik & Fototechnik
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30.08.2006
Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
Optik & Fototechnik
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Angemeldet am 01.10.2004
Erteilt am 30.08.2006
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Wer vertritt Carl Zeiss Jena?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Jena vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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