Dr. Johannes Heidenhain Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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595 gesamt| Patent | |||
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14.06.2017
Verfahren zur Fehlerkorrektur in Positionsmesseinrichtungen
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Angemeldet am 09.09.2015
Erteilt am 14.06.2017
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31.05.2017
Abtastelement für eine induktive Winkelmesseinrichtung
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Angemeldet am 19.12.2014
Erteilt am 31.05.2017
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17.05.2017
Lichtdiodenarray für einen optischen Kodierer und optischer Kodierer
EP2045579
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.09.2008
Anhängig
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03.05.2017
Positionsmesseinrichtung
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Angemeldet am 05.09.2014
Erteilt am 03.05.2017
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12.04.2017
Verfahren zur Übertragung von Daten zwischen einer Positionsmesseinrichtung und einer zugeordneten Verarbeitungseinheit sowie Positionsmesseinrichtung hierfür
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Angemeldet am 18.02.2014
Erteilt am 12.04.2017
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12.04.2017
Positionsmesseinrichtung
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Angemeldet am 03.02.2010
Erteilt am 12.04.2017
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12.04.2017
Tastsystem und Verfahren zum Betrieb eines Tastsystems
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Angemeldet am 21.02.2012
Erteilt am 12.04.2017
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15.03.2017
Anordnung mit mehreren Abtasteinheiten einer Positionsmesseinrichtung
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Angemeldet am 30.01.2013
Erteilt am 15.03.2017
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01.03.2017
Optische Positionsmesseinrichtung
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Angemeldet am 01.06.2015
Erteilt am 01.03.2017
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22.02.2017
Verfahren und Überwachungseinheit zur Überprüfung von Positionswerten
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Angemeldet am 21.12.2011
Erteilt am 22.02.2017
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22.02.2017
Positionsmesssystem und Verfahren zum Betrieb eines Positionsmesssystems
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Status
Angemeldet am 01.12.2014
Erteilt am 22.02.2017
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Positionsmesssystem mit mehreren Abtasteinheiten (E11-E23) zur optischen Abtastung mindestens einer Maßverkörperung (MP), wobei die Abtasteinheiten mit mehreren Lichtquellen (L1-L3) und mehreren Detektoren optisch gekoppelt sind. Zwischen den Abtasteinheiten und den Detektoren (D11-D24) sind mehrere Demultiplexer (DMmk) angeordnet, über die jeweils mindestens zwei Abtasteinheiten mit einem Detektor gekoppelt sind. |
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15.02.2017
Längenmesseinrichtung
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Angemeldet am 08.04.2015
Erteilt am 15.02.2017
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25.01.2017
Optische Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 31.03.2009
Erteilt am 25.01.2017
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18.01.2017
Optische Positionsmesseinrichtung
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Angemeldet am 28.07.2009
Erteilt am 18.01.2017
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18.01.2017
Messsystem mit mindestens einer Sensorleitung
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Angemeldet am 24.01.2007
Erteilt am 18.01.2017
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11.01.2017
Längenmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 26.11.2014
Erteilt am 11.01.2017
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11.01.2017
Anordnung mit einer an einem Träger befestigten Maßverkörperung
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Status
Angemeldet am 19.11.2014
Erteilt am 11.01.2017
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anordnung mit einer an einem Träger (3) befestigten Maßverkörperung (1), wobei die Maßverkörperung (1) eine Messteilung (11) aufweist und über Abstandhalter (4) am Träger (3) abgestützt ist. Zwischen der Maßverkörperung (1) und dem Träger (3) ist eine Schicht (5) angeordnet, welche die Maßverkörperung (1) haftend am Träger (3) hält, und die Abstandhalter (4) sind beweglich in diese Schicht (5) eingebettet. |
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11.01.2017
Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 08.11.2012
Erteilt am 11.01.2017
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04.01.2017
System und Verfahren zur Überwachung von Ausgangssignalen eines Kodierers
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Angemeldet am 03.04.2013
Erteilt am 04.01.2017
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28.12.2016
Anordnung mit einem an einem Träger befestigten Maßstab
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Status
Angemeldet am 31.08.2010
Erteilt am 28.12.2016
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28.12.2016
Inkrementale Positionsmesseinrichtung mit auswählbaren Referenzmarken
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Status
Angemeldet am 10.02.2015
Erteilt am 28.12.2016
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung mit einem Maßstab (1) und einer relativ dazu in Messrichtung (X) beweglichen Abtasteinheit (2). Der Maßstab (1) weist eine inkrementale Messteilung (11) sowie mehrere Referenzmarken (12, 13) auf. Zur Auswahl einer dieser Referenzmarken (12) ist eine erste Markierung (14) in einer Markierungsspur (T1) angeordnet. In dieser Markierungsspur (T1) ist eine zweite Markierung (15) angeordnet, von der durch Abtastung ein Schaltsignal (S1) ableitbar ist. Zur Abtastung der Markierungsspur (T1) sind in der Abtasteinheit (2) zwei in Messrichtung (X) voneinander beabstandete Detektoren (23, 24) vorgesehen. |
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28.12.2016
Positionsmesseinrichtung mit zwei Massverkörperungen deren Codespuren sich gegenseitig überlappen
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Status
Angemeldet am 19.07.2006
Erteilt am 28.12.2016
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21.12.2016
Elektronische Zwischenbaugruppe
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Status
Angemeldet am 16.01.2004
Erteilt am 21.12.2016
Vertretung
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14.12.2016
Interferometeranordnung und Verfahren zu deren Betrieb
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Status
Angemeldet am 01.10.2008
Erteilt am 14.12.2016
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14.12.2016
Vorrichtung zur Positionsbestimmung
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Angemeldet am 20.10.2014
Erteilt am 14.12.2016
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14.12.2016
Positionsmesseinrichtung mit Vorrichtung zur Kompensation von Fehlern durch thermische Dilatation eines Massstabes
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Angemeldet am 14.10.2014
Erteilt am 14.12.2016
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14.12.2016
Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 13.06.2006
Erteilt am 14.12.2016
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23.11.2016
Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 29.05.2013
Erteilt am 23.11.2016
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09.11.2016
Multiturn-Drehgeber
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Status
Angemeldet am 04.09.2014
Erteilt am 09.11.2016
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09.11.2016
Verfahren zur Herstellung einer Maßverkörperung und eine Maßverkörperung
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Status
Angemeldet am 13.02.2013
Erteilt am 09.11.2016
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft Verfahren zur Herstellung einer Maßverkörperung, die zur Abtastung mit einem Magnetfeldsensor geeignet ist. Es wird in diesem Zusammenhang zunächst eine Mischung aus einer aushärtbaren Masse (1) und magnetisierbaren Partikeln (2) hergestellt, so dass die Mischung eine mittlere Partikelkonzentration (X) aufweist. Die Partikel (2) werden innerhalb des Aushärtezeitraums der Masse (1) in einer Form einer Kraft ausgesetzt, in einer Weise, dass die Partikel (2) in eine Schicht (L, L', L") der Maßverkörperung wandern und dort nach dem Aushärten in höherer Konzentration als die mittlere Partikelkonzentration (X) der ursprünglichen Mischung vorliegen. Danach wird eine magnetische Teilung durch Magnetisieren der in der Schicht (L, L', L") befindlichen Partikel (2) aufgebracht. Die Erfindung betrifft zudem eine Maßverkörperung selbst (Figur 2). |
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09.11.2016
Optische Positionsmesseinrichtung zur Erfassung der Position zweier zueinander beweglicher Teile in zwei Bewegungsrichtungen
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Angemeldet am 02.09.2006
Erteilt am 09.11.2016
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02.11.2016
Verfahren und Vorrichtung zur Maßbandmontage
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Status
Angemeldet am 28.02.2012
Erteilt am 02.11.2016
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Montage eines Maßbandes (1) an einer Umfangsfläche (11) eines Trägers (10). Dabei wird das Maßband (1) in einen Zustand gebracht, in dem es von der Umfangsfläche (11) beabstandet angeordnet ist und somit die Haftreibung zwischen der Umfangsfläche (11) und dem Maßband (1) aufgehoben ist. In diesem Zustand wird auf das Maßband (1) eine Spannkraft (F) ausgeübt. Diese Spannkraft (F) verteilt sich aufgrund der reibungsarmen Lagerung des Maßbandes (1) gleichmäßig über den Umschlingungsbereich des Maßbandes (1). In diesem ausgeglichenen Zustand wird die Unterstützung aufgehoben, so dass sich das Maßband (1) an die Umfangsfläche (11) des Trägers (10) anlegt. |
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02.11.2016
Winkelmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 10.09.2005
Erteilt am 02.11.2016
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19.10.2016
Drehgeber
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Angemeldet am 21.11.2012
Erteilt am 19.10.2016
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12.10.2016
Kodiergerät und Vorrichtung zur Ausrichtung eines Kodiergerätes
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Status
Angemeldet am 04.06.2009
Erteilt am 12.10.2016
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05.10.2016
Vormontierte Winkelmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 11.02.2014
Erteilt am 05.10.2016
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14.09.2016
Optische Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 17.09.2014
Erteilt am 14.09.2016
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung zur Erfassung der Position von zwei relativ zueinander beweglichen Objekten mit einer Maßverkörperung, die mit einem der beiden Objekte verbunden ist sowie einem Abtastsystem zur Abtastung der Maßverkörperung, die mit dem anderen der beiden Objekte verbunden ist. Über das Abtastsystem ist eine gleichzeitige Positionsbestimmung entlang einer ersten lateralen Verschiebungsrichtung als auch entlang einer vertikalen Verschiebungsrichtung der Objekte möglich. Hierzu sind auf Seiten des Abtastsystems zwei Abtaststrahlengänge ausgebildet, in denen jeweils aus interferierenden Teilstrahlenbündeln ausgangsseitig eine Gruppe phasenverschobener Signale erzeugbar ist. Über das Abtastsystem ist ferner mindestens ein dritter Abtaststrahlengang ausgebildet, über den eine Positionsbestimmung entlang einer zweiten lateralen Verschiebungsrichtung der Objekte möglich ist. Die Strahlung einer Lichtquelle ist über einen ersten Lichtleiter und eine für alle drei Abtaststrahlengänge gemeinsame Einkoppeloptik dem Abtastsystem zuführbar. Die in den drei Abtaststrahlengängen erzeugten interferierenden Teilstrahlenbündel sind über eine gemeinsame Auskoppeloptik in einen zweiten Lichtleiter einkoppelbar, der diese Strahlenbündel einer Detektoranordnung zuführt (Fig. 6). |
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07.09.2016
Längenmesseinrichtung
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Angemeldet am 18.05.2010
Erteilt am 07.09.2016
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07.09.2016
Modulares Numerisches Steuergerät mit Low-Jitter Synchronisation
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Angemeldet am 21.07.2005
Erteilt am 07.09.2016
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31.08.2016
Positionsmesseinrichtung
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Status
Angemeldet am 12.11.2014
Erteilt am 31.08.2016
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Wer vertritt Dr. Johannes Heidenhain?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Dr. Johannes Heidenhain vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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