Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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25.03.2021
Ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.09.2019
Anhängig
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25.03.2021
Charged particle microscope device and method for adjusting field-of-view thereof
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.09.2019
Anhängig
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25.03.2021
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.09.2019
Anhängig
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25.03.2021
Biological sample analysis device and biological sample analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2019
Anhängig
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25.03.2021
Adapter molecule, biomolecule-adapter molecule complex composed of adapter molecule and biomolecule bound together, biomolecule analyzer and biomolecule analysis method
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 18.09.2019
Anhängig
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24.03.2021
Automatisierter Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2013
Erteilt am 24.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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18.03.2021
Semiconductor device manufacturing method and plasma processing device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.09.2019
Anhängig
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17.03.2021
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.07.2014
Erteilt am 17.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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17.03.2021
Automatisiertes Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.10.2012
Erteilt am 17.03.2021
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
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11.03.2021
Recipe information presentation system and recipe error inference system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.09.2019
Anhängig
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11.03.2021
Charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.09.2019
Anhängig
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11.03.2021
Sample image display system and charged particle beam apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.09.2019
Anhängig
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11.03.2021
Charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.09.2019
Anhängig
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11.03.2021
Complex-type auto analysis device, system, and abnormality determination method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2020
Anhängig
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10.03.2021
Ionenkonzentrationsmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.07.2016
Erteilt am 10.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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10.03.2021
Komponentenanalysevorrichtung, Wirkstoffanalysevorrichtung, Komponentenanalyseverfahren und Arzneimittelkomponentenanalyseverfahren
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.01.2016
Erteilt am 10.03.2021
Vertretung
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10.03.2021
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2015
Erteilt am 10.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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10.03.2021
Aberrationskorrekturvorrichtung für ein Elektronenmikroskop und Elektronenmikroskop mit Solch einer Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.07.2017
Erteilt am 10.03.2021
Vertretung
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04.03.2021
Measurement system, method for generating learning model to be used when performing image measurement of semiconductor including predetermined structure, and recording medium for storing program for causing computer to execute processing for generating learning model to be used when performing image measurement of semiconductor including predetermined structure
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 30.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Transmission electron microscope and imaging method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Charged particle beam system and superposition misalignment amount measurement method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Overlay measurement system and overlay measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Ion gun and ion milling machine
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
Ion milling device and milling method using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.08.2019
Anhängig
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03.03.2021
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.07.2016
Erteilt am 03.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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03.03.2021
Probenübertragungsmechanismus
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.08.2011
Erteilt am 03.03.2021
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
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03.03.2021
Vorrichtung zur Messung einer Elektrolytkonzentration
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.06.2017
Erteilt am 03.03.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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24.02.2021
Massenanalysegerät und Analyseverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.12.2011
Erteilt am 24.02.2021
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
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18.02.2021
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.08.2019
Anhängig
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17.02.2021
Immunassay-Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2010
Erteilt am 17.02.2021
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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17.02.2021
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.12.2013
Erteilt am 17.02.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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11.02.2021
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.08.2019
Anhängig
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11.02.2021
Automatic analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2020
Anhängig
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11.02.2021
Flow cell adjustment method
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 07.08.2019
Anhängig
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11.02.2021
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2019
Anhängig
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11.02.2021
Dimension measurement device, dimension measurement method, and semiconductor manufacturing system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.08.2019
Anhängig
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04.02.2021
Nucleic acid analysis device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2019
Anhängig
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28.01.2021
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2019
Anhängig
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28.01.2021
Reagent Kit
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.07.2019
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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