Melexis Technologies Patente
🇨🇭 Schweiz
Halbleiterunternehmen mit belgischen Wurzeln und Schweizer Sitz, entwickelt integrierte Sensor- und Treiberschaltkreise für Automobil- und Industrieelektronik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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449 gesamt| Patent | |||
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18.04.2019
Control device for vehicle electric load
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2017
Anhängig
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17.04.2019
Integrierte Magnetische Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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27.03.2019
Verfahren und Elektronische Schaltung zur Stillstandserkennung
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 22.06.2016
Erteilt am 27.03.2019
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13.03.2019
Vorrichtung mit Lichtemittierenden Dioden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 16.11.2016
Erteilt am 13.03.2019
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06.03.2019
Stromsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.03.2019
Messung einer Absoluten Winkelposition
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.11.2016
Erteilt am 06.03.2019
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06.03.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Handhabung von Sensormessdaten
Elektronik & Schaltungstechnik
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27.02.2019
Infrarot-Wärmesensor mit gutem SNR
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2014
Erteilt am 27.02.2019
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27.02.2019
Steuerung für Pulsbreitenmoduliert Angetriebene Motoren
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2015
Erteilt am 27.02.2019
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06.02.2019
Verschiebungserkennungsvorrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.07.2017
Erteilt am 06.02.2019
Vertretung
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16.01.2019
Verfahren zur Codierten Ultraschallechoerkennung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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10.10.2018
Halbleiterdrucksensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.12.2014
Erteilt am 10.10.2018
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03.10.2018
Verfahren und Vorrichtung zur Echoabtastung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.10.2018
Drucksensor mit Eingebautem Belastungspuffer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.09.2018
Vertikale Hallsensoren mit Reduziertem Versatzfehler
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.10.2015
Erteilt am 19.09.2018
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19.09.2018
Halbleiterpixeleinheit zum Erfassen von Nahem Infrarotlicht, Gegebenenfalls Gleichzeitig mit Sichtbarem Licht und Halbleitersensor damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.12.2015
Erteilt am 19.09.2018
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04.07.2018
Verkapselung von Halbleiterbauelementen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.05.2014
Erteilt am 04.07.2018
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21.06.2018
Magnetic Sensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2017
Anhängig
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20.06.2018
System und Verfahren zur Tierüberwachung
Medizintechnik & Gesundheit
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
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13.06.2018
Integrierter Stromsensor und Zugehöriges Herstellungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.06.2018
Integriertes Schaltkreispaket mit Leiterrahmen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.06.2018
Flexible Konfiguration einer Gesendeten Vorrichtung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.10.2015
Erteilt am 06.06.2018
Zusammenfassung
The present invention relates to an integrated circuit device (1) comprising an output port (5) for transmitting a data stream and a processing means (2) for controlling the transmission of the data stream in accordance with a single-edge nibble transmission protocol. The device also comprises a configuration means (3) for receiving and storing configuration data. The processing means (2) is adapted for reporting a plurality of diagnostic statuses via the data stream by transmitting for each diagnostic status a corresponding diagnostic code defined by the configuration data, and wherein the processing means (2) is furthermore adapted for reporting the plurality of diagnostic statuses in a diagnostic status reporting order defined by the configuration data. |
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16.05.2018
Halbleitervorrichtung mit transparentem Fenster, um Strahlung hindurchzulassen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.03.2015
Erteilt am 16.05.2018
Zusammenfassung
Method of encapsulating a semiconductor structure (1) comprising providing (301) a semiconductor structure (1) comprising an opto-electric element (2) located in a cavity (3) formed between a substrate (4) and a cap layer (5), the cap layer being made of a material transparent to light, and having a flat upper surface; forming at least one protrusion (7) on the cap layer (5); bringing (303) the at least one protrusion (7) of the cap layer in contact with a tool (8) having a flat surface region, and applying a non-transparent material (9) to the semiconductor structure (1) where it is not in contact with the tool (8); and removing (304) the tool thereby providing an encapsulated optical semiconductor device (10) having a transparent window (11) integrally formed with the cap layer (5). |
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02.05.2018
Verfahren und Treiberschaltung für Resonanzantennenschaltung
Software & Datenverarbeitung
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25.04.2018
Auslesesystem für Hallsensor mit Offset-Bestimmung unter Verwendung des Hallelements Selbst
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.11.2014
Erteilt am 25.04.2018
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11.04.2018
Drucksensor mit Eingebautem Belastungspuffer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2016
Erteilt am 11.04.2018
Zusammenfassung
A semiconductor pressure sensor (1) comprising: a semiconductor substrate (2) having a through-opening (3) extending from a top surface (4) to a bottom surface (5) of the substrate (2), the through-opening (3) forming a space between an inner part (12) and an outer part (11) of said substrate; a pressure responsive structure arranged on said inner part (12); a number of flexible elements (7, 13) extending from said inner part (12) to said outer part (11) for suspending the inner part (12) within said through-opening (3); the through-opening being at least partly filled with an anelastic material. A method of producing such a semiconductor pressure sensor. |
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07.03.2018
Magnetfeldsensor mit einem Hallelement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.09.2002
Erteilt am 07.03.2018
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07.03.2018
Design von Thermosäulen für einen Infrarotsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2012
Erteilt am 07.03.2018
Vertretung
Hertoghe, Kris Angèle Louisa · Winksele
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28.02.2018
Erzeugung Statischen Adressen für ein Datenbussystem
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 29.02.2016
Erteilt am 28.02.2018
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14.02.2018
Erzeugung Statischen Adressen für ein Datenbussystem
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 29.02.2016
Erteilt am 14.02.2018
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03.01.2018
Rotationserkennungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.02.2016
Anhängig
Vertretung
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03.01.2018
Strahlungsdetektor mit einem Kompensationssensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.11.2015
Erteilt am 03.01.2018
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20.12.2017
Gehäuse von Leuchtdioden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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13.12.2017
Hall-Effekt-Sensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.03.2004
Erteilt am 13.12.2017
Vertretung
Hertoghe, Kris Angèle Louisa · Winksele
Wilson Gunn · Manchester
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22.11.2017
Magnetflusskonzentratorstruktur und Verfahren zur Herstellung davon
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.11.2017
Methode zur Reduzierung von Bildrauschen und Abbildungsvorrichtung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 02.12.2014
Erteilt am 22.11.2017
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27.09.2017
Diagnostizierung eines elektronischnen Brückensensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2012
Erteilt am 27.09.2017
Vertretung
Hertoghe, Kris Angèle Louisa · Winksele
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20.09.2017
Halbleiterdrucksensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2015
Erteilt am 20.09.2017
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30.08.2017
Verfahren zur Hermetischen Abdichtung mit Reduzierter Spannung
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Status
Angemeldet am 09.07.2014
Erteilt am 30.08.2017
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16.08.2017
Verlagerungsdetektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt Melexis Technologies?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Melexis Technologies vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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