Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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15.04.2015
Austauschbare Sonde eines Sensors mit chromatischem Bereich für eine Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2013
Erteilt am 15.04.2015
Vertretung
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01.04.2015
Stroboskopische Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2005
Erteilt am 01.04.2015
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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25.03.2015
Auf Specklemustern basierender optischer Positionssensor mit verbesserter Empfindlichkeit bezüglich geometrischer Anordnung und Richtungsabhängigkeit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.05.2001
Erteilt am 25.03.2015
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.03.2015
Linearer Weggeber mit einem lageempfindlichen Lichtdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2010
Erteilt am 18.03.2015
Vertretung
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04.03.2015
Präzisionsantriebvorrichtung mit Laserinterferometer
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.09.2012
Erteilt am 04.03.2015
Vertretung
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25.02.2015
Intensitätskompensation für austauschbare Komponenten eines chromatischen Punktsensors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2010
Erteilt am 25.02.2015
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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25.02.2015
Codierer zum Messen der Absolutposition
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2012
Erteilt am 25.02.2015
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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11.02.2015
Konfiguration eines optischen Kodiererlesekopfs
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.12.2011
Erteilt am 11.02.2015
Vertretung
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28.01.2015
Werkzeug zum Messen eines Innendurchmessers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.07.2009
Erteilt am 28.01.2015
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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07.01.2015
Konfiguration zur Erzeugung eines Referenzsignals für ein interferometrisches Miniatur-Rasterungskodiergerät mithilfe von Glasfaserempfangskanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.01.2015
Gerät zum Messen der Absolutposition
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.07.2008
Erteilt am 07.01.2015
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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07.01.2015
Drehgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.10.2010
Erteilt am 07.01.2015
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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07.01.2015
Indexfehlerschätzvorrichtung, Indexfehlerkalibriervorrichtung und Indexfehlerschätzverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.07.2012
Erteilt am 07.01.2015
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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24.12.2014
Optische Wegmessvorrichtung und multifunktionale optische Wegmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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17.12.2014
Antriebseinheit für einen Oberflächenrauhigkeitsdetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2006
Erteilt am 17.12.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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17.12.2014
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Stylus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.07.2008
Erteilt am 17.12.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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17.12.2014
Bildmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2012
Erteilt am 17.12.2014
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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10.12.2014
Verfahren, Computerprogrammprodukt und Drehcodierer zur Einschätzung des exzentrischen Werts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.12.2011
Erteilt am 10.12.2014
Vertretung
Schiuma, Daniele Wolfgang · München
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03.12.2014
Referenzsignalerzeugungsvorrichtung und Referenzsignalerzeugungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.05.2014
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
A reference signal generation circuit generates a reference signal from a reading result of the reference point detection pattern. The first light-receiving element array includes a first light-receiving element that outputs a first signal, and a second light-receiving element that is disposed in a first direction of the first light-receiving element and outputs a second signal. A second light-receiving element array includes a third light-receiving element that outputs a third signal, and a fourth light-receiving element that is disposed in the first direction of the third light-receiving element and outputs a fourth signal. The second light-receiving element array is disposed in a second direction of the first light-receiving element array. The reference signal generation circuit outputs a reference signal that starts at a period when levels of the first and second signal become equal and ends at a period when levels of the third and fourth signal become equal. |
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03.12.2014
Verfahren und Vorrichtung zur Formmessung mittels Weisslichtinterferometrie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.08.2011
Erteilt am 03.12.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Zusammenfassung
A shape measuring method includes guiding light emitted from a broadband light source to an object to be measured and a reference surface, combining light reflected from the object to be measured with light reflected from the reference surface, and taking a distribution image of an interference light intensity corresponding to each measurement position of the object to be measured, while changing an optical path length difference between a first optical path length and a second optical path length over a whole scanning zone, sequentially storing distribution images of the interference light intensity in the whole scanning zone, and obtaining an interference light intensity string at each measurement position based on the stored distribution images of the interference light intensity, and obtaining a position in an optical axis direction at each measurement position of the object to be measured from a peak position of the interference light intensity string. |
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26.11.2014
Optischer Encoder mit passivem Lesekopf mit kontaktloser Fernerregung und Signalmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.07.2012
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
An optical encoder system (100) with a passive readhead (110) is provided. The passive readhead does not have an attached cable and is an all optical readhead where the measurement position information relative to a scale (80) is read remotely by direct line-of-sight optical transmission to a remote companion system (180). The remote companion system includes a light source (181) and a sensing portion (182). In one embodiment, the sensing portion may comprise a remote lens portion and a photodetector arrangement. The remote companion system is configured to optically sense intensities of imaged regions from the passive readhead, and to output a plurality of signals indicative of the measurement position based on the sensed intensities. |
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20.11.2014
Machine vision system program editing environment including operating context aware copy and paste feature
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 13.05.2014
Anhängig
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05.11.2014
Steuerung für ein Oberflächentexturmessgerät und Verfahren zur Steuerung davon
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2013
Erteilt am 05.11.2014
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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29.10.2014
Profilmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.06.2011
Erteilt am 29.10.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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29.10.2014
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.03.2013
Erteilt am 29.10.2014
Vertretung
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22.10.2014
Werkstücktisch, Verfahren und Vorrichtung zur Oberflächenstrukturbestimmung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.04.2005
Erteilt am 22.10.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.10.2014
Skala für photoelektrischen Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.03.2009
Erteilt am 22.10.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.10.2014
Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.06.2009
Erteilt am 22.10.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.10.2014
Induktionsdetektierender Codedrehgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2009
Erteilt am 15.10.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.10.2014
Kontaktsonde mit Wellenlängendetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.01.2013
Erteilt am 15.10.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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08.10.2014
Optischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2011
Erteilt am 08.10.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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08.10.2014
Optischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2011
Erteilt am 08.10.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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08.10.2014
Profilmessverfahren und Profilmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 02.04.2013
Erteilt am 08.10.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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01.10.2014
Beschleunigungskompensierte Abtastungssonde
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.07.2004
Erteilt am 01.10.2014
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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24.09.2014
Positionsmessvorrichtung und Bearbeitungsapparat mit dieser Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2002
Erteilt am 24.09.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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24.09.2014
Formmesssystem, Formmessverfahren und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 18.05.2010
Erteilt am 24.09.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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24.09.2014
Querschnittprofil-Messverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2012
Erteilt am 24.09.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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24.09.2014
Formmessmaschine und Verfahren zur Korrektur eines Formmessfehlers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.08.2013
Erteilt am 24.09.2014
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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17.09.2014
Verfahren zum Messen eines kreisförmigen Merkmals und Messvorrichtung und Programm zum Messen kreisförmiger Merkmale
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 20.06.2012
Erteilt am 17.09.2014
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
Zusammenfassung
A circular shape characteristic measuring device includes a shape measuring device that obtains measured data by measuring a profile shape of a circular cross-section of an object to be measured having the circular cross-section, and a computation device that calculates a circular shape characteristic of the circular cross-section. The computation device includes: an input device configured to input one of three parameters including a cutoff value of the filtering process, a minimum number of samples, and a ratio of a radius of the circular cross-section to a radius of a gauge head; a parameter table that stores a relationship between the three parameters, and based on the input parameter, determines the other two parameters; and a sampler configured to perform sampling of the measured data based on the minimum number of samples. |
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17.09.2014
Formmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 28.03.2012
Erteilt am 17.09.2014
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
Zusammenfassung
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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