Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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30.09.2009
Verfahren und Programm zur Schätzung von Unsicherheit von Messmaschinen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.12.2005
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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23.09.2009
Linsenanordnung für einen chromatischen Abstandssensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.03.2008
Erteilt am 23.09.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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23.09.2009
Optische Einheit und Messinstrument mit mehreren afokalen optischen Systemen zur Änderung der Vergrösserung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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16.09.2009
Formmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.11.2006
Erteilt am 16.09.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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16.09.2009
Optisches Interferometer zur Messung von Dickenänderungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.03.2007
Erteilt am 16.09.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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16.09.2009
Laserfrequenzstabilisierungsvorrichtung, -verfahren und -programm
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.09.2009
Vakuumlichtwellenleiterverbinder und Lichtwellenleiterendstruktur
Optik & Fototechnik
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02.09.2009
Photoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.05.2004
Erteilt am 02.09.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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02.09.2009
Mikrometer mit Digitalanzeige
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.01.2008
Erteilt am 02.09.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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26.08.2009
Tastkopf mit Reinigungsfunktion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2008
Erteilt am 26.08.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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26.08.2009
Photoelektrischer Codierer und Skala
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.08.2009
Kalibrierungsskala für optisches Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.10.2007
Erteilt am 12.08.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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05.08.2009
Korrekturverfahren für ein Konturmessgerät und Konturmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.05.2007
Erteilt am 05.08.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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05.08.2009
Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.01.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.07.2009
Verfahren und Apparat zum Messen geometrischer Elemente
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2001
Erteilt am 08.07.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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01.07.2009
Präzisionsarbeitsfläche mit Wabenstruktur und Vorrichtung zur Wärmeleitung
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 03.05.2006
Erteilt am 01.07.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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10.06.2009
Kalibrierungsverfahren eines Bildmessinstruments
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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03.06.2009
Formmesssensor und Formmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.04.2001
Erteilt am 03.06.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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27.05.2009
Digitale Messuhr und Verfahren zur deren Verwendung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.11.2007
Erteilt am 27.05.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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20.05.2009
Dynamische Kompensation einer Auswahl von Stärkeprofildaten für einen chromatischen Punktsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.10.2008
Anhängig
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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13.05.2009
Verfahren und Vorrichtung zur Formmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.09.2007
Erteilt am 13.05.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.04.2009
Messinstrument für Oberflächenstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.06.2007
Erteilt am 15.04.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.04.2009
Verfahren und Vorrichtung zur unterstützenden Messung von einem zu messenden Objekt
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 16.09.2003
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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25.03.2009
Berechnungsverfahren von Referenzkoordinaten, Programm zur Berechnung von Referenzkoordinaten, dazugehöriges Speichermedium, Referenzplatte und Maschine zur Formmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.08.2005
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.03.2009
Reduzierung aufsummierter systematischer Fehler bei einem Korrelationslängenmesssystem mit Auflösung im Subpixelbereich
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2002
Erteilt am 04.03.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.03.2009
Schieblehre
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.08.2007
Erteilt am 04.03.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.03.2009
Laserinterferometer, sowie Verfahren zu dessen Kalibrierung und Verwendung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.08.2007
Erteilt am 04.03.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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04.02.2009
Optisches Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.07.2007
Erteilt am 04.02.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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14.01.2009
Linearführungsschienen mit einem Luftlager für Messmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.04.2004
Erteilt am 14.01.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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07.01.2009
Interferometer und Formmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.05.2006
Erteilt am 07.01.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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07.01.2009
Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Neigung einer Werkstückoberfläche
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2008
Anhängig
Vertretung
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31.12.2008
Messvorrichtung und Verfahren zur Oberflächentexturmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2007
Erteilt am 31.12.2008
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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10.12.2008
Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung des Messvorgangs eines Konturmessgeräts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2007
Erteilt am 10.12.2008
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.12.2008
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Interpolation des Ausgangssignals eines Kodierers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2006
Erteilt am 03.12.2008
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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26.11.2008
Reflexionskodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.11.2008
Vorrichtung zum Messen von Profilen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2007
Erteilt am 19.11.2008
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.11.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Wellenlängenänderung in hochauflösenden Messsystemen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Erteilt am 12.11.2008
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.11.2008
Tastkopf und Konturmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2007
Erteilt am 12.11.2008
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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29.10.2008
Vorrichtung und Verfahren zur Formmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.09.2004
Erteilt am 29.10.2008
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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15.10.2008
Bildmessvorrichtung und Bildmessverfahren
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 25.01.2006
Erteilt am 15.10.2008
Vertretung
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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