Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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11.05.2011
Codierer und Signalanpassungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Angemeldet am 17.06.2005
Erteilt am 11.05.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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04.05.2011
Kontaktfreie Mehrbereichssonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.07.2007
Erteilt am 04.05.2011
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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09.03.2011
Oberflächentextur-Messgerät, Oberflächentextur-Messverfahren und Oberflächentextur-Messprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.07.2008
Erteilt am 09.03.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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09.03.2011
Höhen- und Neigungseinstellvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2009
Erteilt am 09.03.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.01.2011
Instrument und Verfahren zur Oberflächenstrukturmessung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2009
Erteilt am 19.01.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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05.01.2011
Einspannvorrichtung zur Messung einer Objektform und Verfahren zur Messung einer dreidimensionalen Form
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2009
Erteilt am 05.01.2011
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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29.12.2010
Sensorsignaldetektionsschaltung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 12.05.2009
Erteilt am 29.12.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.11.2010
Faserschnittstelle für einen chromatischen Konfokalsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.03.2008
Erteilt am 03.11.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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27.10.2010
Fotoelektrischer Kodierer und Betriebssteuerungsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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20.10.2010
Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung einer Objektoberfläche mittels eines Abstandssensors, der den Brennpunkt misst
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.03.2008
Erteilt am 20.10.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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13.10.2010
Mikroskop und Verfahren zur Erfassung dreidimensionaler Informationen
Optik & Fototechnik
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01.09.2010
Verfahren zum Messen der Vorder- und Rückseite eines Objekts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2009
Erteilt am 01.09.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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28.07.2010
Interferometer mit schräger Einstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.07.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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28.07.2010
Interferometer mit schräger Einstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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07.07.2010
Positionssteuerungsvorrichtung, Messvorrichtung und Bearbeitungsvorrichtung
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2006
Erteilt am 07.07.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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07.07.2010
Selbstnachführendes Laserinterferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.04.2009
Erteilt am 07.07.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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16.06.2010
Messgerät für Oberflächentextur und Breitenmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2004
Erteilt am 16.06.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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16.06.2010
Kodierer zur Verschiebungsbestimmung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.07.2007
Erteilt am 16.06.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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02.06.2010
Faseroptischer Miniaturkodierer für feine Skalenabstufungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.07.2007
Erteilt am 02.06.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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02.06.2010
Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Messen der Oberflächenbeschaffenheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2008
Erteilt am 02.06.2010
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.05.2010
Massstab für einen Oberflächenreflexionsgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.06.2008
Erteilt am 12.05.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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05.05.2010
Vorrichtung zur absoluten Distanzmessung durch chromatische Fokussierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.06.2005
Erteilt am 05.05.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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05.05.2010
Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.04.2010
Objektivlinse
Optik & Fototechnik
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31.03.2010
Bildvermessungssystem, wobei ein Bildmessgerät in einem Non-Stop-Modus bewegt wird
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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24.02.2010
Tasterspitze und deren Reinigung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.08.2008
Erteilt am 24.02.2010
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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17.02.2010
Zugantriebskraft-Übertragungsvorrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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16.12.2009
Benutzerschnittstelle für ein Werkzeug zur Definition eines bogenförmigen interessierenden Bereichs in einem visuellen Messsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.10.2007
Erteilt am 16.12.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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16.12.2009
Laserinterferometer mit zwei Wellenlängen und Verfahren zur Einstellung der optischen Achse davon
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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09.12.2009
Messwerkzeug
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2006
Erteilt am 09.12.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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09.12.2009
Optisches Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.05.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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25.11.2009
Optisches Gitter und Herstellungsverfahren dafür sowie Linearkodierer und optisches Mikroskop mit dem optischen Gitter
Optik & Fototechnik
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18.11.2009
Härtemessungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.12.2003
Erteilt am 18.11.2009
Vertretung
Dealtry, Brian · Nottingham
Khan, Mohammed Saiful Azam · Nottingham
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18.11.2009
Beleuchtungsvorrichtung und Sichtmessgerät
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.02.2008
Erteilt am 18.11.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.11.2009
Vorrichtung, Verfahren und Programm für Rundheitsmessung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2008
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.11.2009
Vorrichtung, Verfahren und Programm zum zweidimensionalen Gitter-Eichen und Aufzeichnungsmittel
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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11.11.2009
Kompakter induktiver Wegaufnehmer mit Neigungsausgleich
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.07.2007
Erteilt am 11.11.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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28.10.2009
Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.10.2009
Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.12.2005
Erteilt am 14.10.2009
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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30.09.2009
Vorrichtungen und Verfahren zur Regelung von stroboskopischer Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Angemeldet am 19.05.2006
Erteilt am 30.09.2009
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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