Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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09.11.2016
Koordinatenmessmaschine und Verfahren zur Berechnung einer Korrekturmatrix mit der Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2015
Erteilt am 09.11.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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09.11.2016
Optischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2014
Erteilt am 09.11.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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09.11.2016
Globale Kalibrierung für Stereovisionssonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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02.11.2016
Härtetester
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.09.2005
Erteilt am 02.11.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.10.2016
Linearskala
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.03.2010
Erteilt am 19.10.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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12.10.2016
Skala für photoelektrischen Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.06.2014
Erteilt am 12.10.2016
Vertretung
Zusammenfassung
A scale for a photoelectric encoder includes a scale substrate and a reflection film formed at a predetermined pitch on the scale substrate. A surface of the reflection film forms a reflection surface. A low-reflection surface is formed by etching the scale substrate between reflection films. Accordingly, a scale can be provided which is lower in cost and has favorable yield rates. |
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12.10.2016
Profilmessgerät, das ein interferometrisches Verschiebungsmessgerät verwendet
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.08.2007
Erteilt am 12.10.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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21.09.2016
Führungsschienenträger, Führungsschiene, Antriebsvorrichtung, Messinstrument
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.01.2005
Erteilt am 21.09.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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21.09.2016
Separater linearer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.01.2014
Erteilt am 21.09.2016
Vertretung
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14.09.2016
Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Größenunterschieds
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.04.2007
Erteilt am 14.09.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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31.08.2016
Staubdichte Struktur für ein Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.04.2012
Erteilt am 31.08.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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31.08.2016
Formmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.07.2008
Erteilt am 31.08.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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24.08.2016
Formmessungsvorrichtung und Steuerungsverfahren der Formmessungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.07.2013
Erteilt am 24.08.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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17.08.2016
Sensorsignaldetektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2015
Erteilt am 17.08.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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17.08.2016
Optischer Positionsgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2014
Erteilt am 17.08.2016
Vertretung
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17.08.2016
Optischer Weggeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.03.2014
Erteilt am 17.08.2016
Vertretung
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17.08.2016
Fotoelektrischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2015
Erteilt am 17.08.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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17.08.2016
Fotoelektrischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.09.2014
Erteilt am 17.08.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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03.08.2016
Korrekturverfahren für Achsenabstandswinkel
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2006
Erteilt am 03.08.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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13.07.2016
Formmesssystem, Formmessverfahren und Formmessprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 05.02.2007
Erteilt am 13.07.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.06.2016
Schraubenmessverfahren, Schraubenmesssonde und Schraubenmessgerät mit der Schraubenmesssonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.03.2007
Erteilt am 08.06.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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08.06.2016
Schneller Kontaktdetektor für Messfühler
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.06.2016
Koordinatenmessmaschine mit mechanischer Abtastung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.06.2016
Steuerungsvorrichtung und Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.01.2012
Erteilt am 01.06.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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18.05.2016
Adapter zur Korrektur für Glasdicke, Feldlinse und Verfahren zur Montage eines Adapters auf einer Feldlinse
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.03.2013
Erteilt am 18.05.2016
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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18.05.2016
Mechanismus zur Umsetzung einer Drehbewegung und Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.12.2003
Erteilt am 18.05.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.05.2016
Kodierer mit faseroptischen Empfängerkanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.05.2004
Erteilt am 18.05.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.05.2016
Absoluter optischer Codierer mit weitreichender Intensitätsmodulation auf Skala
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.06.2011
Erteilt am 18.05.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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04.05.2016
Vorrichtung und Verfahren zur Verschiebungserkennung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.10.2012
Erteilt am 04.05.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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27.04.2016
Konfiguration einer Messteilungs-Spur für einen absoluten optischen Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.08.2009
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.04.2016
Photoelektrischer Kodierer, Skala dafür und Herstellungsverfahren für die Skala
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.10.2007
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.04.2016
Absoluter Positionsgeber
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.07.2003
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.04.2016
Autofokusmechanismus
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.06.2014
Erteilt am 27.04.2016
Vertretung
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20.04.2016
Formmessvorrichtung und Korrekturverfahren für Formmessfehler
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2015
Erteilt am 20.04.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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20.04.2016
Detektor und Messvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.10.2010
Erteilt am 20.04.2016
Vertretung
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06.04.2016
Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.04.2013
Erteilt am 06.04.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
A first reference pattern has a plurality of patterns, which are arranged periodically in a measurement axis direction and have the same width in the measurement axis direction. The plurality of patterns have the respective different pitches, At least one of the plurality of patterns is smaller in pitch than a first main signal pattern. A second sensor has a plurality of detection regions which are in one-to-one correspondence with the plurality of patterns of the first reference pattern. An addition calculating section calculates an addition signal by adding up output signals of the plurality of detection regions. A square calculating section calculates a squared signal from the addition signal. A judging section outputs a reference signal for determination of a reference position according to signal levels of the squared signal. |
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30.03.2016
Fotoelektrischer Kodierer, Skala dafür und Verfahren zu dessen Herstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.12.2005
Erteilt am 30.03.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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30.03.2016
Induktiver Erkennungsdrehkodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.01.2013
Erteilt am 30.03.2016
Vertretung
Zusammenfassung
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16.03.2016
Messinstrument für Oberflächenstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.03.2012
Erteilt am 16.03.2016
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
Zusammenfassung
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09.03.2016
Verschiebungserkennungsvorrichtung, Skalakalibrierverfahren und Skalakalibrierprogramm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2012
Erteilt am 09.03.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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