Mitutoyo Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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688 gesamt| Patent | |||
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26.07.2017
Hilfswerkzeug zur Koordinatenmessung und Koordinatenmesssonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.01.2008
Erteilt am 26.07.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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19.07.2017
Massstab für ein Translations- und Orientierungsmesssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.07.2017
Absoluter Drehgeber und Mikrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.04.2006
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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19.07.2017
Koordinatenmessmaschine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.02.2011
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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12.07.2017
Sichtmessgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2012
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
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12.07.2017
Kugelformmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.01.2011
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
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05.07.2017
Verfahren und Programm zur Verwendung von Gesten zur Steuerung einer Koordinatenmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 03.01.2014
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
A coordinate measuring device includes a measuring probe (101) measuring three-dimensional coordinates; a measuring arm (100) supporting the measuring probe and outputting position information for calculating the three-dimensional coordinates; a controller (300) connected to the measuring arm and detecting the three-dimensional coordinates based on the position information; and a memory (131) storing a predetermined gesture. The controller (300) further detects a trajectory of the measuring probe (101) based on the continuously detected three-dimensional coordinates and, by cross-checking the trajectory with the gesture stored in the memory, the controller recognizes the specific gesture corresponding to the trajectory. |
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05.07.2017
Fotoelektrischer Absolutcodierer und Installationsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.11.2013
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
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05.07.2017
Oberflächentextur-Messgerät, Oberflächentextur-Messverfahren und Programm
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.05.2010
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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05.07.2017
Laserfrequenzstabilisierungsvorrichtung, Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Stabilisierung der Laserfrequenz
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2007
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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31.05.2017
Verfahren und Programm zur Verwendung von Gesten zur Steuerung einer Koordinatenmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.01.2014
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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31.05.2017
Beleuchtungsabschnitt für einen optischen Codierer mit anpassbarer Auflösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 07.06.2013
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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17.05.2017
Beleuchtungslichtmengeneinstellungsverfahren und Bildmessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.01.2009
Erteilt am 17.05.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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10.05.2017
Verfahren und Vorrichtung zur Eichung von Messmaschinen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2002
Erteilt am 10.05.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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03.05.2017
Vorrichtung zum Messen der Absolutposition
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2007
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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26.04.2017
Mikrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.06.2009
Erteilt am 26.04.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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26.04.2017
Breitband Interferometer zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Dünnschicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.04.2017
Interferometer mit integrierter Bildaufnahmematrix, Polarisator hoher dichte und Phasenverschiebungsmatrix
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.10.2003
Erteilt am 19.04.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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19.04.2017
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Erteilt am 19.04.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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12.04.2017
Fotoelektrischer Kodierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.04.2011
Erteilt am 12.04.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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29.03.2017
Messverfahren und Messgerät mit einem selbstnachführenden Laserinterferometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.04.2008
Erteilt am 29.03.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.03.2017
Korrekturverfahren, Computerprogrammprodukt und Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 31.01.2007
Erteilt am 22.03.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.03.2017
Konfiguration zur Erzeugung eines Referenzsignals für ein interferometrisches Miniatur-Rasterungskodiergerät mithilfe von Glasfaserempfangskanälen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2009
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.03.2017
Optische Positionsmessvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2008
Erteilt am 22.03.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.03.2017
Kunstharzmassstab eines Positionsgebers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.05.2003
Erteilt am 22.03.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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15.03.2017
Optischer Kodierer mit anpassbarer Auflösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.12.2012
Erteilt am 15.03.2017
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
Zusammenfassung
A flexible optical displacement encoder configuration uses a source grating (115) to illuminate a scale with structured light such that light from the scale is modulated with a beat frequency envelope which may have a relatively coarse pitch that matches a desired detector pitch. An imaging configuration (180) provides spatial filtering to remove the high spatial frequencies from the modulation envelope to provide a clean signal in the detected fringe pattern. This combination of elements allows an incremental scale track pattern with a relatively finer pitch (e.g., 4, 5, 8 microns) to provide fringes with a coarser pitch (e.g., 20 microns) at a detector. Various scale resolutions can use a corresponding source grating such that all combinations can produce detector fringes that match the same economical detector component. |
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08.02.2017
Interferometer mit schräger Einstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2007
Erteilt am 08.02.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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01.02.2017
Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Fehlerbildes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.05.2012
Erteilt am 01.02.2017
Vertretung
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25.01.2017
Messsonde für ein Scanmikroskop und Betriebsverfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.05.2008
Erteilt am 25.01.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.01.2017
Digitales Messinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.09.2006
Erteilt am 18.01.2017
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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11.01.2017
Telezentrisches Linsensystem und Sehvermögenmessinstrument
Optik & Fototechnik
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14.12.2016
Glasfaservibrationsmesser und Vibrationserfassungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.01.2011
Erteilt am 14.12.2016
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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14.12.2016
Struktur zum Schutz von Skaleneinteilungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.06.2012
Erteilt am 14.12.2016
Vertretung
Skone James, Robert Edmund · London
Gill Jennings & Every LLP · London
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07.12.2016
Lagegeber mit fotoelektrischer Detektion
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2004
Erteilt am 07.12.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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23.11.2016
Optischer Kodierer und Linsenbefestigungsmechanismus dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.06.2013
Erteilt am 23.11.2016
Vertretung
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16.11.2016
Verfahren zum Reinigen des Schlittens eines Oberflächenrauheitstesters
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.06.2011
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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16.11.2016
Analogmessverfahren einer Grösse für ein Zylindermessinstrument
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.01.2000
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
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16.11.2016
Referenzsignalerzeugungsvorrichtung und Referenzsignalerzeugungssystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.05.2014
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Zusammenfassung
A reference point detection light-receiving unit receives light from a reference point detection pattern by first to fifth light-receiving elements. The first to fifth light-receiving elements are arranged in a first direction and outputs first to fifth signals, respectively. A reference signal generation circuit outputs a reference signal that starts at a period where a level of a signal, which is obtained by adding first and second signals, and a level of a signal, which is obtained by adding third and fourth signals, will become equal, and ends at a period where a level of a signal, which is obtained by adding the second and third signals, and a level of a signal, which is obtained by adding fourth and fifth signals, become equal. |
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16.11.2016
Oberflächentexturmessmaschine und Oberflächentexturmessverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2013
Erteilt am 16.11.2016
Vertretung
Müller-Boré & Partner Patentanwälte · München
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09.11.2016
Optischer Codierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Wer vertritt Mitutoyo Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Mitutoyo Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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