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Advanced Micro Devices Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

1.708
Patente
2000–2024
Anmeldejahre
24
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.708 gesamt
Patent
10.05.2002
Umkehrbeschichtungsverfahren für Photoresist
WO0237183
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.05.2002
Belichtungsverfahren Während des Nachbesserungsverfahrens für eine Verbesserte Resistentfernung
EP1203402
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.04.2002
Neue Methode zur Herstellung des Auswahl-Gates für Erhöhte Zuverlässigkeit und Leistungsfähigkeit in Flash-Speichern vom Nand-Typ
EP1198834
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.04.2002
Phasenschieber - Fotomasken für Dichte Musteranordnungen
EP1194813
Optik & Fototechnik
28.03.2002
Verfahren zum Vertiefen von Zwischenverbindungen bei einer Damaszenstrukturierung
WO0225726
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2002
Herstellungsverfahren von Hochintegrierten Speicherzellen und Kleinen Abständen durch Anwendung von Nitridspacern
EP1181714
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2002
Herstellungsverfahren eines Niederohmigen Mosfet Gatters mittels Dickem Metallsilizids auf Polysilizium
EP1181711
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.01.2002
Herstellungsmethode eines Dielektrik-Stapels mit Hoher Permitivität und Kleinem Pufferoxid
EP1173886
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.01.2002
Feldeffekttransistor mit Nicht-Schwebendem Körper und Sein Herstellungsverfahren Of einem Silizium Wafer
EP1173892
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.01.2002
Verfahren und Niedrigspannungs-Schaltung zur Erzeugung einer Hochgenauen Erhöhten Wortleitungsspannung für Speicherzellen im Lesebetrieb
WO0203391
Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.01.2002
Verfahren zur In-Situ Ätzung einer Hartmaske und einer Metallschicht in Derselben Ätzvorrichtung
EP1166344
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.12.2001
Verringerung der Einflüsse von Vergrösserungs- und Retikelrotationsfehlern auf Überdeckungsfehler
EP1161707
Optik & Fototechnik
01.11.2001
Lithographisches System mit Vorrichtung zum Belichten eines Wafer-Randes
WO0182001
Optik & Fototechnik
18.10.2001
Trockenmittel Enthaltender Artikelträger
WO0178113
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.10.2001
Leiterrahmenentwurf für Verringerte Drahtablenkung
WO0178147
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.10.2001
Kontakt zu einer Polysiliziumschicht sowie Verfahren
WO0175975
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.09.2001
Verschachtelter Multibitspeicher
WO0167462
Akustik, Musik & Datenspeicherung
07.09.2001
Löschung einer Einzelnen Nichtflüchtigen Speicherzelle eines Flash-Speichers
WO0165567
Akustik, Musik & Datenspeicherung
07.09.2001
Wahlfreie Löschung einer Nichtflüchtigen Speicherzelle eines Flash-Speichers
WO0165566
Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.08.2001
Benutzerauswählbare Speicherzellenprogrammierung
WO0163615
Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.08.2001
Speicherprogrammierung mit Variabler Pulsbreite
WO0163616
Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.08.2001
Multibitspeicher mit Bitanzahlauswahlmoglichkeit pro Speicherzelle
WO0163614
Akustik, Musik & Datenspeicherung
30.08.2001
Multibitprogrammierverfahren
WO0163613
Akustik, Musik & Datenspeicherung
02.08.2001
Speicherfeldkette mit Sequentiellem Nahtlosem Zugriff
WO0156034
Akustik, Musik & Datenspeicherung
19.04.2001
Minimierung des Leistungsverbrauchs Dauernd Schlafmodi durch Verwendung von dem Kernspannungminimum Erforderlich zur Systemzustandsaufrechterhaltung
WO0127728
Software & Datenverarbeitung
19.04.2001
Verfahren und Apparat zum Aufbringen von Schichten eines Kontaktes, eines Kontaktdurchganges und eines Grabens mit Hochdichte-Metalionenplasma-Titanium-Und-Cvd-Titannitrid-Schichten
WO0127982
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.03.2001
Verfahren zur Verbesserten Schätzung der Kritischen Abmessungen bei der Herstellung von Mikroelektronischen Bauelementen
WO0122183
Steuerungs- & Regelungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.02.2001
Verfahren zur Kontrolle der Grösse eines Kontakts für Nand-Technologie
WO0113427
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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Technologiefelder

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Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Nachrichtentechnik & Telekommunikation
149
Akustik, Musik & Datenspeicherung
146
Elektronik & Schaltungstechnik
51
Optik & Fototechnik
41
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30
Steuerungs- & Regelungstechnik
25
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
20
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
7
Metallurgie & Oberflächentechnik
6
Elektrische Energietechnik
5

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